[发明专利]一种测试产品绝缘电阻的测试方法和测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子元器件测试，特别是涉及一种测试产品绝缘电阻的测试方法和测试系统。

背景技术

现在，随着电子信息系统的迅猛发展，各种元器件得到广泛的应用。其中不少元器件要求其绝缘性能很高，那么这些元器件在生产企业中出厂检测时多数是通过设备进行自动化测试生产，故在自动化测试过程中势必会遇到测试端子与产品之间接触不良的情况发生，导致测试错误，从而导致不良品当做良品流出，不能满足市场对产品性能的要求。

市面上可用于绝缘电阻(Cross IR)测试的测试仪器均是通过检测线路电容大小的方式来避免接触不良，然而，这种方式检测存在两个最大的弊端：

1.电容检测的精度范围受到限制，通常只能检测到电容量大于等于0.5PF的产品，针对小于此电容量的产品无法使用这种方式来检查测试端子与产品之间是否存在接触不良的问题；

2.在实际生产过程中动态状态下测试产品绝缘电阻，通过检测电容量的方式来检查测试端子与产品之间是否存在接触不良存在弊端，易出现误检查，最终导致仪器测试的是空气的绝缘电阻，影响测试结果的准确性。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术的不足，提供一种测试产品绝缘电阻的测试系统、测试方法及测试设备，提高产品的绝缘电阻测试的准确性和可靠性。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种测试产品绝缘电阻的测试系统，包括：

低阻计，用于通过电流回路测试功能来检测低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好；

高阻计，用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻；

转换器，所述转换器连接所述低阻计和所述高阻计，用于切换所述低阻计和所述高阻计择一进行工作；

控制系统，所述控制系统连接转换器，所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测，当检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后，控制所述转换器切换到所述高阻计，对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。

进一步地：

所述低阻计为毫欧表。

所述控制系统与所述低阻计之间通过检测信号反馈通路相连，所述低阻计检测到低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好时，将检测信号反馈到所述控制系统，当所述控制系统判断反馈的信号结果在预设的合格范围内时，所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计进行工作。

一种使用所述的测试系统测试产品绝缘电阻的测试方法，包括以下步骤：

S1、所述控制系统先控制所述转换器切换到所述低阻计对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测；

S2、当所述低阻计检测到所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后，所述控制系统控制所述转换器切换到所述高阻计以对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量；

S3、所述高阻计测量产品的绝缘电阻值并输出测试结果。

进一步地：

步骤S2中，所述控制系统接收所述低阻计通过检测信号反馈通路反馈的检测信号，判断所述低阻计的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好，是则控制所述转换器切换到所述高阻计再进入步骤S3，否则不切换到所述高阻计。

步骤S1中，用所述低阻计的两对测试端子分别在待测产品的两个待测端上进行电流回路测试。

一种测试产品绝缘电阻的测试设备，包括：

低阻测量模块，用于通过电流回路测试功能来检测低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好；

高阻测量模块，用于测量产品的两个待测端之间的绝缘电阻；

转换器，所述转换器连接所述低阻测量模块和所述高阻测量模块，用于切换所述低阻测量模块和所述高阻测量模块择一进行工作；

控制模块，所述控制模块连接转换器，所述控制模块先控制所述转换器切换到所述低阻测量模块对测试端子与待测产品的两个待测端之间是否接触良好进行检测，当检测到所述低阻测量模块的测试端子与待测产品的两个待测端之间接触良好之后，控制所述转换器切换到所述高阻测量模块，对产品的两个待测端之间的绝缘电阻进行测量。

进一步地：

所述低阻测量模块为能够测毫欧级电阻的测量模块。