[发明专利]一种用于精确评估IEEE1588同步时钟时间偏移估计量下界的方法在审

专利信息
申请号: 201710024341.6 申请日: 2017-01-12
公开(公告)号: CN106612152A 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 谢昊飞;闫阳;王平;李强;龙祎 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: H04J3/06 分类号: H04J3/06
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 代理人: 廖曦
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;85
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 精确 评估 ieee1588 同步 时钟 时间 偏移 计量 下界 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于网络测量和控制系统的时钟同步技术领域,涉及一种用于精确评估IEEE1588同步时钟时间偏移估计量下界的方法。

背景技术

在网络时间同步技术中,目前主要的协议有:简单时钟同步协议(SNTP)、网络时钟同步协议(NTP)和IEEE 1588协议(PTP)。其中,SNTP同步协议和NTP同步协议精度依赖于网络情况,精度不高,只能达到毫秒级,适用于对时间同步精度要求不高的网络环境。IEEE1588时间同步协议借助硬件的帮助提升了协议时间同步的精度,可以将精度提升到微秒级,因而PTP同步协议被广泛应用到了实时性要求高的网络环境中,如工业控制网络、移动通信网络等。

在PTP同步期间,数据包在从主节点游历到从节点的途中会遇到一些中间节点(如:交换机或路由器)这样就会在每个节点上累积随机时延,整个网络就会产生时延偏差,从而时钟在同步过程中就会产生相应的时钟偏移量,时钟偏移量是一个估计问题。为了提高时钟同步的精度就需要提高时钟偏移量精度。传统的方法有通过取估计量的均方误差来衡量估计的精度,如无偏估计一般采用的用柯克拉莫—罗下界,最大似然估计以及自适应估计的估计方差采用的齐夫—扎凯下界。

通过分析PTP同步系统模型,发现始终偏移估计量问题是一个非贝叶斯估计问题,具体可以划分为位置参数估计问题,然而传统的非贝叶斯估计描述方法,如柯克拉莫—罗下界要求观测值的概率密度函数相对于未知参数保持固定,不符合PTP同步系统模型。因而,将基于贝叶斯估计方法的Wei-Weinsten界限描述方法引用到该问题中,通过设定条件,即可获得IEEE1588时钟同步偏移量的性能下界。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种用于精确评估IEEE1588同步时钟时间偏移估计量下界的方法,具体方案如下:

一种用于精确评估IEEE1588同步时钟时间偏移估计量下界的方法,该方法包括以下步骤:

S1:根据IEEE1588时间同步原理建立相应的系统模型;

S2:通过分析系统模型得出相位偏移和时间偏移的观测模型;

S3:分析位置参数问题的性能界限描述方法,包括非贝叶斯参数模型和贝叶斯参数模型,并得出不同参数模型的使用条件;

S4:将贝叶斯参数估计模型应用到时钟偏移量的观测模型得出性能下界。

进一步,在步骤S1中,所述建立基于IEEE1588时间同步原理的系统模型具体包括:假

定正向和反向延时偏差和为随机变量,相位偏移量α、频率偏移量β、主从时间偏移δ([α,β]T)和路径正向和反向时延的固定最小部分和为未知的定量,最后,给定时钟偏移估计量的观测模型为y=Aθ+w,观测矢量y的条件概率密度函数为f(y|)=fw(y-A)。

进一步,确定IEEE1588时钟偏移量估计问题是一个位置参数估计问题,该问题可描述为:在一个N维向量空间中,观测量x通过一个条件概率密度函数f(x|θ)受到一个M维参数矢量的影响,如果此处存在一个N×M的矩阵G和一个函数f0(·),那么有f(x|θ)=f0(x-Gθ)。

进一步,在步骤S4中,采用基于贝叶斯的Weiss-Weinstien估计方法来衡量时钟偏移量下界;在时钟偏移量问题中,传统的非贝叶斯估计理论的于下界R(θ,g)方法,如Cramer-Rao估计要求观测值的概率密度函数相对于未知参数保持恒定,不适用于IEEE1588时间偏移估计问题中的观测量θ为随机变量的条件。将基于贝叶斯的Weiss-Weinstien估计方法应用到IEEE时钟偏移估计问题中,令不等式M(g)≥B(g,p),通过采取先验分布p(θ)对B(g,p)取下界值即为估计量下界。

进一步,确定Weiss-Weinstien下界的适用条件,该下界描述为:若有一个位置参数问题,其观测量x的概率密度函数为f(x|θ)=f0(x-Gθ),其中为任意标量为M×1的向量,则有

另有一个k×1向量μ,它的ith元素为:

ui=(CThi)·ξ(h1,OM×1,1-si,O)

那么存在一个OM×1为一个M×1值为0向量;令V为一个K×K的矩阵,它的(i,j)元素为

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆邮电大学,未经重庆邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710024341.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top