[发明专利]一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置及方法

权利要求书

1.一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：包括两个电磁铁（1）、傅里叶转换红外光谱分析仪（2）、两个光束收集器（3）、两个偏振分析仪（4）、两个分光光度计（5）、试样放置台（6）、全反射棱镜（7）、光源发射器（8）和空气调节器（9）；

所述试样放置台（6）安装有可旋转的固定装置，固定装置上放置有试样，试样两侧分别设有电磁铁（1），试样位于电磁铁（1）所产生的平行磁场中；

所述光源发射器（8）发射探测光束，经过全反射棱镜（7）射向试样，经过试样的透射光束和反射光束分别依次导向分光光度计（5）、偏振分析仪（4）、傅里叶转换红外光谱分析仪（2）外接的光束收集器（3）；

上述试验测量系统装置均设置在封闭空间内，并通过空气调节器（9）调节环境温度，所述傅里叶转换红外光谱分析仪（2）的输出端连接处理计算机。

2.根据权利要求1所述的一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：所述电磁铁（1）为SB-130型双轭双调谐可变气隙电磁铁，标准极头磁场范围0T~2.5T。

3.根据权利要求1所述的一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：所述傅里叶转换红外光谱分析仪（2）为Nicolet IS10型傅里叶变换红外光谱仪。

4.根据权利要求1所述的一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：所述偏振分析仪（4）为PAX-5710型全波段偏振分析仪。

5.根据权利要求1所述的一种测量磁光材料光学参数的试验测量系统装置，其特征在于：所述分光光度计（5）为LAMBDA950型分光光度计。

6.一种采用权利要求1、2、3、4或5所述装置的测量磁光材料光学参数的试验方法，其特征在于：包括以下步骤：

1）首先在试样放置台（6）上设有试样的固定装置，将试样放置在固定装置后，其位于电磁铁（1）所产生的平行磁场中，电磁铁（1）自主调节所产生的平行磁场大小，固定装置可在试样放置台（6）上旋转，选择磁场方向和被测表面的角度；

2）在试验开始前将试验空间进行封闭，利用空气调节器（9）进行温度调节，将环境温度调至预定试验温度，定量分析不同温度下的磁光材料的光学性能；

3）光源发射器（8）首先发射测量所需波长或波段的探测光束，探测光束经过全反射棱镜（7）射向试样，探测光束通过全反射棱镜（7）进行相对于被测表面多角度的角度调整，光源发射器（8）和全反射棱镜（7）的位置根据入射角度的调整而调整，并具有固定、调节的配套设备；

4）经过试样的透射光束和反射光束依次导向分光光度计（5）和偏振分析仪（4），进行光束场强与偏振态分析，所述分光光度计（5）测量不同波长下的光束强度，分析波长与光强度的关系，所述偏振分析仪（4）在宽的波长范围内进行高精度的测量光束的偏振态；分光光度计（5）和偏振分析仪（4）的位置根据入射角度的调整而调整，并具有固定、调节的配套设备；

5）之后两束光分别通过光束收集器（3）进入傅里叶转换红外光谱分析仪（2）进行数据采集，光束收集器（3）用来接收来自被测材料的反射、透射或辐射光束，其位置根据入射角度的调整而调整，并具有固定、调节的配套设备；

6）傅里叶转换红外光谱分析仪（2）的数据输出至处理计算机进行数据计算处理； 所述处理计算机具有相应的数据处理软件，在测量设备的测量数据输入后，进行数据处理，得到被测材料的介电常数张量、吸收率、反射率、透射率、偏振态旋转角度、色散关系这些光学参数，定量分析位于不同方向、不同场强的平行磁场作用下，磁光材料的不同波长、入射角度、温度、掺杂浓度、表面微结构对磁光材料光学性能的对应关系和非互易性能的对应关系。