[发明专利]基于平面波电磁测深的静态效应校正方法

权利要求书

1.一种基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，包括如下步骤：

S1.测量前，在电磁测深点测量电极两侧延长线上供以直流电，所述供以直流电时供电极距不小于三倍的测量极距；

S2.在直流供电时，记录电压稳定时的测量点A的电压值U；

S3.在步骤S2记录到稳定电压值U后停止直流供电，并记录断电后积累电荷产生的电压U₂；

S4.采用如下公式计算静态校正系数k：

k＝U₂/(U-U₂)

S5.利用步骤S4得到的静态校正系数k，采用如下公式对静态效应进行校正：

E_c＝E_m/(1+k)

式中E_c为校正静态效应后的电场值，E_m为基于平面波电磁测深时直接测量得到的电场值。

2.根据权利要求1所述的基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，其特征在于还包括如下步骤：

S6.在每一个测量点，重复步骤S1～步骤S5，得到每一个测量点的校正静态效应后的电场值。

3.根据权利要求1所述的基于平面波电磁测深的静态效应校正方法，其特征在于还包括如下步骤：

S7.根据校正后的电场值估算视电阻率。