[发明专利]一种相位展开方法及系统有效
申请号: | 201710029705.X | 申请日: | 2017-01-16 |
公开(公告)号: | CN106802137B | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 张启灿;李凤娇;刘守起 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G06T7/521 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 马维丽 |
地址: | 610065 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 相位 展开 方法 系统 | ||
1.一种相位展开方法,应用于虚拟相位平面展开装置,其特征在于,所述方法包括:
根据投射到被测物体表面的结构光获得所述被测物体的截断相位;
通过拍摄得到参考平面并获取参考平面展开相位,根据所述截断相位和所述参考平面展开相位进行展开操作,得到第一相位分布结果;
构建虚拟平面连续相位,根据所述截断相位和所述虚拟平面连续相位进行展开操作,得到第二相位分布结果;
将所述第一相位分布结果和所述第二相位分布结果进行相位区域融合,得到所述被测物体的展开相位及高度分布结果;
所述根据所述截断相位和所述参考平面展开相位执行展开操作,得到第一相位分布结果的步骤,包括:
将所述截断相位和所述参考平面展开相位进行做差处理,将差值与2π相比较,并按如下公式得到第一相位级次:
其中,为被测物体的截断相位,φo为参考平面展开相位,K为第一相位级次,floor函数为向下取整函数;
根据所述第一相位级次和所述参考平面展开相位,并按如下公式计算得到所述被测物体的第一展开相位:
其中,φ1为所述被测物体的第一展开相位;
将所述第一展开相位和所述参考平面展开相位进行做差处理,得到第一相位分布结果。
2.根据权利要求1所述的相位展开方法,其特征在于,所述虚拟平面连续相位和所述参考平面展开相位之间满足如下关系:
(φo-2nπ)<φs<(φo+2nπ)
其中,φs为所述虚拟平面连续相位,φo为所述参考平面展开相位,n为正整数(1,2,3,…,n)。
3.根据权利要求2所述的相位展开方法,其特征在于,所述根据所述截断相位和所述虚拟平面连续相位进行展开操作,得到第二相位分布结果的步骤,包括:
将所述截断相位和所述虚拟平面连续相位进行做差处理,将差值与2π相比较得到第二相位级次;
根据所述第二相位级次和所述虚拟平面连续相位得到所述被测物体的第二展开相位;
将所述第二展开相位和所述参考平面展开相位进行做差处理,得到第二相位分布结果。
4.根据权利要求1所述的相位展开方法,其特征在于,所述将所述第一相位分布结果和所述第二相位分布结果进行相位区域融合,得到所述被测物体的展开相位及高度分布结果的步骤,包括:
将所述第一相位分布结果和所述第二相位分布结果进行相位区域融合;
扣除在构建所述虚拟平面连续相位时引入的相位级次,得到所述被测物体的相位分布;
根据所述被测物体的展开相位与高度之间的关系,重建所述被测物体的高度分布。
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