[发明专利]用于确定在样品中第二流体中的第一流体的浓度的系统有效

专利信息
申请号: 201710037172.X 申请日: 2012-06-07
公开(公告)号: CN106645002B 公开(公告)日: 2020-07-21
发明(设计)人: 约翰·科茨;罗伯特·奎尔斯 申请(专利权)人: 精量电子(美国)有限公司
主分类号: G01N21/3504 分类号: G01N21/3504;G01N21/3577;G01F23/292;G01N21/27;G01N21/31;G01N21/85
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 阳开亮
地址: 美国弗*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 样品 第二 流体 中的 第一 浓度 系统
【权利要求书】:

1.一种用于确定在样品中第二流体中的第一流体的浓度的系统,包括:

至少一个传感器,用于检测:

具有参考波长的第一光束传输经过所述样品的第一辐射强度;

具有第一波长的第二光束传输经过所述样品的第二辐射强度;

具有参考波长的第三光束传输经过所述样品的第三辐射强度;

具有第二波长的第四光束传输经过所述样品的第四辐射强度;

待取样流体的温度;

与该至少一个传感器通信的处理器,该处理器用于根据所检测的第一,第二,第三和第四辐射强度计算第二流体中的第一流体的浓度值;以及

与所述处理器通信并用于存储校准数据的存储装置;

其中,所述处理器被配置来基于(第二强度/第一强度)—(第四强度/第三强度)的值计算所述第二流体中的所述第一流体的浓度值,检测的所述温度,以及存储的所述校准数据。

2.如权利要求1所述的系统,其中第一和第二光束包括第一路径长度,以及第三和第四光束包括不同于第一路径长度的第二路径长度。

3.如权利要求1所述的系统,其中第一波长对应于第一流体的吸收峰;第二波长对应于第二流体的吸收峰;参考波长是第一和第三光束不会被流体吸收的波长。

4.如权利要求1所述的系统,其中该至少一个传感器包括分别用于检测第一,第二,第三和第四辐射强度的第一,第二,第三和第四传感器,以及第一,第二,第三和第四传感器均包括检测器和发射器对。

5.一种用于确定在样品中第二流体中的第一流体浓度的方法,包括:

检测具有参考波长的第一光束传输经过所述样品的第一辐射强度;

检测具有第一波长的第二光束传输经过所述样品的第二辐射强度;

检测具有参考波长的第三光束传输经过所述样品的第三辐射强度;

检测具有第二波长的第四光束传输经过所述样品的第四辐射强度;

检测待取样流体的温度;

至少部分根据所检测的第一,第二,第三和第四辐射强度确定第二流体中的第一流体的浓度值;以及

读取所存储的校准数据;

其中,确定第二流体中的第一流体的浓度值的步骤还进一步基于(第二强度/第一强度)—(第四强度/第三强度)的值,检测的所述温度,以及所述存储的校准数据。

6.如权利要求5所述的方法,还包括步骤:

检测样品的温度。

7.如权利要求6所述的方法,其中校准数据包括:

表征以下值的数据:

(a)在(i)参考频率,(ⅱ)对应于所述第一流体的吸收峰的频率,以及(iii)对应于所述第二流体的吸收峰的频率,通过所述第一流体传输的辐射强度的值;和

(b)在(i)参考频率,(ⅱ)对应于所述第一流体的吸收峰的频率,以及(iii)对应于所述第二流体的吸收峰的频率,通过所述第二流体传输的辐射强度的值。

8.如权利要求5-7任一项所述的方法,其中第一和第二光束包括第一路径长度;以及第三和第四光束包括不同于第一路径长度的第二路径长度;第一波长对应于第一流体的吸收峰;第二波长对应于第二流体的吸收峰;参考波长是第一和第三光束不会被流体吸收的波长。

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