[发明专利]用于设置磁共振断层成像序列的方法有效
申请号: | 201710037384.8 | 申请日: | 2017-01-18 |
公开(公告)号: | CN107037384B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | T.费威尔;A.格雷塞;U.霍斯克;T.斯佩克纳;D.格罗兹基;M.尼特卡;D.N.斯普利索夫 | 申请(专利权)人: | 西门子保健有限责任公司 |
主分类号: | G01R33/54 | 分类号: | G01R33/54;G01R33/44 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 侯宇;刘畅 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 设置 磁共振 断层 成像 序列 方法 | ||
1.一种用于设置磁共振断层成像序列的方法,包括以下步骤:
a)通过限制提供单元提供至少一个限制,其中所述至少一个限制包括对于至少一个物理梯度轴的至少一个最大梯度特性,
b)通过参数提供单元提供所述序列的多个参数,
其中所述多个参数中的至少一个被分配默认参数值,
c)借助于选择单元选择所述多个参数中的一个参数,
d)基于所述默认参数值中的至少一个通过仿真单元来确定至少一个序列模式,
e)基于至少一个序列模式和所述至少一个限制,通过分析单元确定所选择的参数的允许的参数值范围,
f)借助于确定单元在所述允许的参数值范围内确定所选择的参数的新的参数值。
2.根据权利要求1所述的方法,
其中在所述至少一个序列模式中考虑至少一个校正梯度和/或至少一个补偿梯度。
3.根据权利要求1中任一项所述的方法,
其中所述至少一个序列模式包括多个时间,
其中为了确定所述允许的参数值,关于所述至少一个限制来检查每个时间点。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中为了确定允许的参数值范围,针对参数值确定不同的测试参数值。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中所述至少一个限制包括多个限制,
其中以规定的顺序检查所述多个限制。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中所述至少一个序列模式描述所述序列的部分片段。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中借助于完整搜索和/或二进制搜索来确定允许的参数值范围。
8.根据权利要求7所述的方法,
其中对于所述二进制搜索从至少一个限制导出第一开始参数值和第二开始参数值。
9.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中所述至少一个限制包括至少一个绝对限制和至少一个保守限制,
其中所述至少一个绝对限制确定绝对的参数值范围,并且所述至少一个保守限制确定保守的参数值范围,
其中在绝对的参数值范围和保守的参数值范围的至少一个差区域中确定至少一个允许的部分参数值范围,
其中允许的参数值范围包括保守的参数值范围和允许的部分参数值范围。
10.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中基于所述至少一个最大梯度特性和所述至少一个序列模式为所述至少一个物理梯度轴中的每一个确定梯度优化值,
其中,基于所述至少一个梯度优化值确定允许的参数值范围。
11.根据权利要求10所述的方法,
其中基于所述最大梯度特性与所述至少一个序列模式的最大值的比率的最小值来确定所述梯度优化值。
12.根据权利要求10所述的方法,
其中确定逻辑梯度轴的至少一个最大梯度特性,基于该最大梯度特性确定允许的参数值范围。
13.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,
其中在确定允许的参数值范围的情况下执行序列的优化分析。
14.根据权利要求13所述的方法,
其中所述优化分析基于优化规则进行。
15.根据权利要求13所述的方法,
其中所述序列对优化分析的结果做出反应。
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