[发明专利]一种基于图像处理的胶体金检测方法及系统有效
申请号: | 201710037576.9 | 申请日: | 2017-01-19 |
公开(公告)号: | CN106771169B | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 蔡庆国;黄赋山;郑朝雄;孙红旗;江秋菊;樊晓星;杨彬;杨德辉 | 申请(专利权)人: | 厦门海荭兴仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01N33/558 | 分类号: | G01N33/558;G06T7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 361000 福建省厦门市*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 处理 胶体 检测 方法 系统 | ||
1.一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
(10)获取胶体金检测卡的检测图像,并对该检测图像的待识别区域进行灰度处理,得到灰度图像;
(20)计算所述灰度图像的灰度积分曲线;
(30)查找所述灰度积分曲线的所有波谷点,并计算各个波谷点的半峰宽、峰中心点、有效积分面积;
(40)查找有效积分面积最大的波谷点,得到最大波谷点;
(50)若所述最大波谷点的半峰宽在预设范围之外,则判断该最大波谷点为无效点,并认定为所述胶体金检测卡为无效卡;若所述最大波谷点的半峰宽在预设范围之内,则判断该最大波谷点为有效点,并认定为所述胶体金检测卡为有效卡,然后执行步骤(60);
(60)根据所述最大波谷点的峰中心点的位置进行判断该最大波谷点为C线位置或者T线位置;若判断为C线位置,则向T线方向寻找其他有效波谷点,若找到其他有效波谷点则将该波谷点认定为T线位置,若找不到其他有效波谷点则认定为无T线;若判断为T线位置,则向C线方向寻找其他有效波谷点,若找到其他有效波谷点则将该波谷点认定为C线位置;若找不到其他有效波谷点则认定为无C线,并认定为所述胶体金检测卡为无效卡;
其中,所述的步骤(30)中,所述半峰宽、峰中心点、有效积分面积的计算方法如下:
(31)计算峰中心点:
以波谷点为中心,分别向两侧寻找拐点,计算拐点与波谷点纵坐标差值Z1、Z2,并根据该纵坐标差值寻找横坐标差值X1、X2,取X1、X2的中心点即为峰中心点;
(32)计算半峰宽:
以X1、X2做直线,波谷点到直线的距离即为峰高,并根据峰高计算半峰宽;
(33)计算有效积分面积:
计算X1、X2之间所有点的峰高的总和,即为波谷点的有效积分面积。
2.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于:所述的步骤(10)中,还进一步将所述检测图像拉伸或压缩至反应板的长度,并根据所述反应板的检测区域对所述检测图像进行裁剪得到所述检测图像的待识别区域。
3.根据权利要求2所述的一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于:对所述检测图像进行裁剪得到所述检测图像的待识别区域,是指以所述反应板为中心,保留横向M*L、纵向M*L*0.3的像素区域作为所述待识别区域;其中,M为校准系数,L为所述反应板的长度;所述M的值的范围为:0.75~0.95。
4.根据权利要求2所述的一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于:所述的步骤(20)中计算所述灰度图像的灰度积分曲线,进一步包括:
(21)获取所述灰度图像的灰度值[X,Y,Z],其中,X为所述反应板的长边的像素坐标,Y为所述反应板的短边的像素坐标,Z为坐标位置(X,Y)处的灰度值;
(22)以X坐标作为横坐标,以Y坐标为纵坐标,对Y坐标进行灰度积分求和,得到灰度积分曲线[X,Zsum];
(23)对所述灰度积分曲线进行滤波处理。
5.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于:所述的步骤(31)中进行计算峰中心点,还进一步对所述纵坐标差值Z1、Z2进行校准,即,校准后的纵坐标差值为N*Z1、N*Z2,并根据校准后的纵坐标差值N*Z1、N*Z2进行寻找横坐标差值X1、X2;其中,N为校准系数,且N的值的范围为:0.75~0.95。
6.根据权利要求1所述的一种基于图像处理的胶体金检测方法,其特征在于:还进一步对所述半峰宽进行校准,即,校准后的半峰宽的预设范围为P/V和P*V之间,所述半峰宽在P/V和P*V范围之内则判定所述最大波谷点为有效点,所述半峰宽在P/V和P*V范围之外则判定所述最大波谷点为无效点;其中,P为半峰宽预设值,V为半峰宽变动系数;所述V的值的范围为:1.1~1.8。
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