[发明专利]一种确定导磁构件杂散损耗的方法有效
申请号: | 201710046776.0 | 申请日: | 2017-01-22 |
公开(公告)号: | CN106646283B | 公开(公告)日: | 2019-01-11 |
发明(设计)人: | 刘涛;刘兰荣;刘洋;翟志强;刘玉龙;车福来;王伟;张晓光;刘主光;朱承治 | 申请(专利权)人: | 保定天威保变电气股份有限公司;全球能源互联网研究院;国网浙江省电力公司;国家电网公司;国网浙江省电力公司温州供电公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02 |
代理公司: | 唐山顺诚专利事务所(普通合伙) 13106 | 代理人: | 于文顺;喻期彪 |
地址: | 071056 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 确定 构件 损耗 方法 | ||
本发明涉及一种确定导磁构件杂散损耗的方法,属于电力变压器电磁测量技术领域。技术方案是:采用仿真计算手段对电磁装置的导磁构件损耗测量结果进行修正。首先采用传统的“负载‑空载”方式测量得到导磁构件损耗,再利用仿真计算手段得到励磁线圈在负载及空载两种工况条件下的损耗差,最后将损耗差计入测量得到的导磁构件损耗测量结果中,从而得到最终损耗数据。本发明的积极效果:通过仿真计算手段,可以较准确的计算得到非导磁材料铜线在两种工况条件下的损耗差,将该损耗差计入测量结果中,可以修正实验测量得到的导磁构件损耗,从而得到更准确合理的损耗数据。
技术领域
本发明涉及一种确定导磁构件杂散损耗的方法,属于电力变压器电磁测量技术领域。
背景技术
目前,在电磁测量技术领域,电磁装置中导磁结构件的杂散损耗测量存在技术难点,主要在于负载(含导磁结构件)及空载(不含导磁结构件)工况条件下的励磁线圈周围的漏磁场分布会有差异。漏磁场分布的差异会导致励磁线圈在同样激励电流条件下的损耗产生差异,因此,传统的“负载损耗-空载损耗”处理方法得到导磁结构件损耗会产生一定误差。
发明内容
本发明的目的是提供一种确定导磁构件杂散损耗的方法,该方法利用仿真计算手段较准确地获得负载及空载条件下的励磁线圈(不导磁材料)损耗及损耗差,并将该损耗差计入实验测量结果中,通过该方法处理得到的导磁构件杂散损耗相对传统方法提高了准确度,解决背景技术存在的上述问题。
本发明的技术方案是:
一种确定导磁构件杂散损耗的方法,采用仿真计算手段对电磁装置的导磁构件损耗测量结果进行修正:
首先采用传统的负载-空载方式测量得到导磁构件的损耗
所述采用仿真计算手段对电磁装置的导磁构件损耗测量结果进行修正的具体方法:
励磁线圈可以是一个或由多个组成,在励磁线圈上放置导磁构件;
在施加相同激励电流条件下,分别测量:负载工况条件下,含导磁构件的模型总损耗
(1)
所述的模型总损耗,在负载条件下的
设
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