[发明专利]一种蓝绿光发光二极管的外延片及制备方法在审
申请号: | 201710051020.5 | 申请日: | 2017-01-23 |
公开(公告)号: | CN106816503A | 公开(公告)日: | 2017-06-09 |
发明(设计)人: | 孙玉芹;董彬忠;王江波 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/20;H01L33/00;B82Y30/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 蓝绿 发光二极管 外延 制备 方法 | ||
1.一种蓝绿光发光二极管的外延片,其特征在于,所述外延片包括平片衬底和依次层叠在所述平片衬底上的AlN缓冲层、u型GaN层、N型GaN层、有源层和P型GaN层,其中,所述AlN缓冲层的厚度为dnm,5≤d<25。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述AlN缓冲层的厚度为10nm~25nm。
3.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述有源层包括交替层叠的多个InGaN阱层和多个GaN垒层,所述InGaN阱层的厚度为2.8nm~3.8nm,所述GaN垒层的厚度为5nm~30nm。
4.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述N型GaN层的厚度为1μm~4μm。
5.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述P型GaN层的厚度为100nm~500nm。
6.一种蓝绿光发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
提供一平片衬底;
在所述平片衬底上外延生长AlN缓冲层;
在所述AlN缓冲层上生长u型GaN层;
在所述u型GaN层上生长N型GaN层;
在所述N型GaN层上生长有源层;
在所述有源层上生长P型GaN层,
其中,所述AlN缓冲层的厚度为dnm,5≤d<25。
7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述AlN缓冲层的生长温度为1000~1100℃。
8.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述有源层包括交替层叠的多个InGaN阱层和多个GaN垒层,所述多个InGaN阱层的生长温度为790~820℃,所述多个GaN垒层的生长温度为910~940℃。
9.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述N型GaN层的生长温度为1210~1240℃。
10.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,所述P型GaN层的生长温度为980~1010℃。
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