[发明专利]一种测量星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系关系的方法在审
申请号: | 201710053828.7 | 申请日: | 2017-01-24 |
公开(公告)号: | CN106871929A | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 吴迪;陈纾;叶志龙;郑循江;王燕清 | 申请(专利权)人: | 上海航天控制技术研究所 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00;G01C21/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 敏感 坐标系 棱镜 关系 方法 | ||
1.一种测量星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系关系的方法,其特征在于步骤如下:
1)模拟星敏感器装星方式,将星敏感器安装到三轴转台上,使转台安装面与光星模拟器光轴垂直;
2)使用光星模拟器模拟星点光线矢量照射星敏感器,找到星敏感器的测量坐标系的坐标原点以及测量坐标系的X轴和Y轴;
3)测量得到星敏感器的棱镜坐标系Z轴相对于测量坐标系Z轴的偏差;
4)测量得到偏差数据,即星敏感器的棱镜坐标系X轴相对于测量坐标系X轴的偏差,以及星敏感器的棱镜坐标系Y轴相对于测量坐标系Y轴的偏差,完成星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系关系之间关系的测量。
2.如权利要求1所述的一种星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系偏差测量方法,其特征在于:所述的步骤3)具体包含以下步骤:
3.1)使光星模拟器光轴与星敏感器的测量坐标系的Z轴同向,在找到星敏感器的测量坐标系X轴的基础上,将经纬仪的自准直光线打到星敏感器的棱镜上,使得经纬仪的测量十字叉丝与棱镜的X轴、Z轴正交;
3.2)调整三轴转台,使得星敏感器输出星点矢量在测量坐标系上的光斑灰度质心坐标成一水平直线;
3.3)再次使经纬仪的测量十字叉丝打到星敏感器的棱镜上,读出测量偏差数据,即星敏感器棱镜坐标系Z棱镜相对于星敏感器测量坐标系Z探测器的偏差。
3.如权利要求1或2所述的一种星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系偏差测量方法,其特征在于:所述的步骤4)具体包含以下步骤:
4.1)布置经纬仪,使经纬仪A的自准直光线与星敏感器上的探测器滤光片垂直,使经纬仪B的自准直光线能够打到星敏感器的棱镜上;
4.2)通过经纬仪A和经纬仪B测量得到偏差数据。
4.如权利要求1所述的一种星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系偏差测量方法,其特征在于:所述的步骤4.2)中测量得到偏差数据的具体过程为:将经纬仪A和经纬仪B进行对瞄,以经纬仪A的度数为基准,设置经纬仪B的度数,再通过经纬仪B读出测量偏差数据,即星敏感器棱镜坐标系X棱镜相对于星敏感器测量坐标系X探测器的偏差,以及星敏感器棱镜坐标系Y棱镜相对于星敏感器测量坐标系Y探测器的偏差。
5.如权利要求4所述的一种星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系偏差测量方法,其特征在于:所述测量星敏感器棱镜坐标系X棱镜相对于星敏感器测量坐标系X探测器的偏差的过程具体包含以下步骤:
4.2.1.1)在找到星敏感器的测量坐标系X轴的基础上,将经纬仪A的测量十字叉丝与测量坐标系的X轴和Y轴正交;
4.2.1.2)将经纬仪A和经纬仪B对瞄,以经纬仪A的度数为基准,将经纬仪B的度数设置为经纬仪A的度数;
4.2.1.3)使经纬仪B的测量十字叉丝打到星敏感器的棱镜上,读出测量偏差数据,即星敏感器棱镜坐标系X棱镜相对于星敏感器测量坐标系X探测器的偏差。
6.如权利要求4所述的一种星敏感器测量坐标系与棱镜坐标系偏差测量方法,其特征在于:所述测量星敏感器棱镜坐标系Y棱镜相对于星敏感器测量坐标系Y探测器的偏差的过程具体包含以下步骤:
4.2.2.1)在找到星敏感器的测量坐标系Y轴的基础上,将经纬仪A的测量十字叉丝与测量坐标系的X轴和Y轴正交;
4.2.2.2)将经纬仪A和经纬仪B对瞄,以经纬仪A的度数为基准,将经纬仪B的度数设置为经纬仪A的度数;
4.2.2.3)使经纬仪B的测量十字叉丝打到星敏感器的棱镜上,读出测量偏差数据,即星敏感器棱镜坐标系Y棱镜相对于星敏感器测量坐标系Y探测器的偏差。
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