[发明专利]一种配向膜膜面检测装置及方法

说明书

本发明实施例提供一种配向膜膜面检测装置及方法，涉及显示装置的制造技术领域。能够解决对配向膜表面摩擦配向不良的检测结果不准确的问题。包括，椭圆偏光单元，设置在待检测配向膜的一侧；光源，设置在椭圆偏光单元背离待检测配向膜的一侧，光源用于朝向椭圆偏光单元发射光线，以便椭圆偏光单元将光源发射的光线转换成椭圆偏振光。

技术领域

本发明涉及显示装置的制造技术领域，尤其涉及一种配向膜膜面检测装置及方法。

背景技术

液晶显示装置通常包括阵列基板、彩膜基板以及在相互对盒的阵列基板和彩膜基板之间填充的液晶层。对液晶显示面板(Thin Film Transistor-Liquid CrystalDisplay，TFT-LCD)施加电压之后，液晶层内各处的液晶分子在不同电压的作用下发生相应的偏转，以控制偏振光的旋转方向以及偏振状态，实现液晶显示装置的显示。为了使得液晶层内的液晶分子在施加电压发生偏转之前处于一种有序的排列状态，需要在填充液晶之前，在阵列基板和彩膜基板上形成配向膜。配向膜通常使用聚酰亚胺(polyimide，PI)以印刷的方式制作，因此配向膜也称为聚酰亚胺(polyimide，PI)膜。

配向膜需要进行配向处理才能具备对液晶分子的初始配向能力，以有效控制液晶分子的有序排列。对于聚酰亚胺(polyimide，PI)膜的配向技术，主要包括摩擦(Rubbing)型和非摩擦(Non-Rubbing)型两大类。对于摩擦(Rubbing)型配向膜，需要通过摩擦布(Rubbing Cloth)对聚酰亚胺膜的表面进行接触式的定向机械摩擦，摩擦高分子表面所供的能量使高分子主链因延伸而定向排列，从而控制液晶(Liquid Chromatography，LC)分子的配向排列。

若配向膜的表面印刷或摩擦配向工艺完成得不均匀，就会使得后续工序中在液晶层内填充的液晶分子配向排列不均一，进而导致最终制得的液晶显示面板的显示效果不理想，出现Mura等显示不良的问题，影响液晶显示面板的品质。因此，在对配向膜的摩擦配向工序完成后，需要对配向膜的膜面进行检测，以便能够及时发现和处理配向膜膜面的不良并及时更换摩擦布。

现有的配向膜膜面检测装置，如图1所示，是先向面板21上形成有待检测配向膜20的一侧喷蒸汽(如图1中虚线箭头所示)，并在另一侧通过手持强光灯31向形成有待检测配向膜20的面板21上照射，蒸汽使得面板21雾化，便于反射光线的观察，然后通过人眼观测反射光线(手持强光灯31发出光线以及反射光线如图1中箭头所示)，根据反射光线的明暗差异，判断待检测配向膜20表面是否存在有摩擦配向不良的位置。

由于在这种检测方式中，人眼观察到的是圆偏振光的反射光，圆偏振光中多个偏振态分量相互叠加，对摩擦配向不良位置处的显示产生干扰，使得一些在其中某一偏振态分量上显示程度较轻的不良难以被人眼识别，而且，由于检测用圆偏振光与成品液晶显示面板中的椭圆偏振光的偏振态不同，通过圆偏振光检测识别出的配向膜不良与配向膜在成品液晶显示面板中实际产生的不良不相匹配，进而导致检测结果不准确。

发明内容

本发明实施例提供一种配向膜膜面检测装置及方法，能够解决对配向膜表面摩擦配向不良的检测结果不准确的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

本发明实施例的一方面，提供一种配向膜膜面检测装置，包括，椭圆偏光单元，设置在待检测配向膜的一侧；光源，设置在椭圆偏光单元背离待检测配向膜的一侧，光源用于朝向椭圆偏光单元发射光线，以便椭圆偏光单元将光源发射的光线转换成椭圆偏振光。

优选的，椭圆偏光单元包括液晶面板，以及设置在液晶面板与光源之间的第一线偏光片，液晶面板包括相对设置的两块透明基板，以及封装在两块透明基板之间的向列相液晶层，向列相液晶层的液晶分子具有预设配向方向。其中，第一线偏光片所在的平面与液晶面板、待检测配向膜所在的平面之间相互平行或近似平行。