[发明专利]测量系统和方法

说明书

本发明公开了一种测量系统和方法。一种用于测量RF设备中的信号的测量系统，所述测量系统包括：至少两个信号发生器，用于在所述信号发生器中的每个信号发生器中产生测试信号；用于每个信号发生器的探针，每个探针连接到各个信号发生器，用于将各个测试信号发射到RF设备；以及可控的定位器，用于将RF设备相对于各个探针进行可旋转地定位。

技术领域

本发明涉及用于测量射频设备中的信号强度的测量系统和方法。

背景技术

虽然本发明适用于利用无线信号的任何系统，但是将结合无线通信设备的测试来描述本发明。

现代无线通信设备使用射频信号来发送数据和/或语音。这样的通信设备的制造商一直尝试改进通信设备的效率，同时必须满足符合法律或标准规则。

因此，在开发、生产期间以及生产之后，对于这样的通信设备执行大量测试。这些测试提供质量保障和符合性测试。一个测试包括测量各个设备的总全向灵敏度(TotalIsotropic Sensitivity，TIS)。

发明内容

存在着改进对于RF设备的TIS测量的需求。

一种用于测量RF设备中的信号的测试系统，包括：至少两个信号发生器或者具有两个输出端的单个信号发生器，用于在每个信号发生器中产生测试信号；用于每个信号发生器的探针，每个探针连接到各个信号发生器，用于将各个测试信号发射到RF设备；以及可控定位器，用于将RF设备相对于各个探针进行可旋转地定位。

一种用于测量RF设备中的信号的方法，包括：产生至少两个测试信号，利用用于每个测试信号的探针将各个测试信号发送到RF设备，以及将RF设备相对于探针进行可旋转地定位。

在现代通信系统中，例如像智能手机或者其他移动设备，尤其是所谓的5G设备，能够使用天线或天线阵列，这些天线或天线阵列能够接收并且识别经由不同信号路径接收到的信号。这样的天线例如能够执行束形成，并且因此有利于提高移动数据通信中的信号质量或信号强度。

如上所述，有必要确定这样的RF设备的特征(例如，像TIS)以确保符合法律或其他规定(例如特定的标准)。

本发明提供一种测量系统，该系统支持RF设备中的TIS测量。在测量期间，RF设备能够处于测量模式，并且测量经由它的天线(例如经由内部测量单元)接收到的信号。这样的单元例如能够嵌入到RF设备的收发器中。这意味着测量系统不必执行测量，而能够依靠RF设备来执行测量。

当执行RF设备的TIS测量时，各个RF设备暴露给来自不同方向的预定RF信号。该TIS能够被视为接收设备在整个三维空间进行平均的平均灵敏度。TIS测量的结果通常与RF设备中天线的天线图案相关。

本发明支持TIS测量，尤其是在使用高频因而能够发生束形成和多路信号传输的RF设备中。这样的设备能够使用5GHz、28GHz、60GHz，任何之间的频率或者更高的频率用于信号发送/接收。

不同的信号发生器能够与虚拟基础信号同步，即RF设备的通信伙伴将发射的信号。但是，信号发生器然后能够产生测试信号，该测试信号模拟基础信号经由不同的信号路径到RF设备的发送。该模拟例如能够包括执行基础信号的相位改变和偏振改变。

该探针能够指向RF设备，即测试信号能够从各个探针位置直接发射到RF设备。但是，信号发生器提供信号特征根据所模拟的传输路径进行改变的测试信号。

定位器(例如，3D定位器)能够至少转动RF设备。这意味着RF设备被以某种方式固定到定位器的可转动部件，并且能够以这样的方式进行转动：该探针的发送从不同的角度到达RF设备。

因此，本发明允许向RF设备提供模拟的来自不同角度的真实世界信号，并且因此允许有效地测量RF设备的TIS。

本发明的其他实施例是其他从属权利要求和参考附图的下面描述的主题。