[发明专利]堆叠式存储器芯片的短路检测器件及其方法

权利要求书

1.一种短路检测电路，包括：

多个数据输入/输出垫片，每个数据输入/输出垫片连接至多个微凸块中的对应微凸块；

多个数据输出电路，每个数据输出电路包括上拉驱动器和下拉驱动器，所述多个数据输出电路各自被配置为驱动所述多个数据输入/输出垫片中的对应数据输入/输出垫片；

上拉驱动器输出控制电路，被配置为基于微凸块短路测试类型为所述多个数据输出电路中的每一个选择关断状态、弱接通状态和强接通状态中的一种状态作为与其相关联的所述上拉驱动器的输出；

下拉驱动器输出控制电路，被配置为基于微凸块短路测试类型为所述多个数据输出电路中的每一个选择关断状态、弱接通状态和强接通状态中的一种状态作为与其相关联的所述下拉驱动器的输出；

测试输入数据存储电路；以及

测试输出数据存储电路。

2.如权利要求1所述的短路检测电路，其中，所述微凸块短路测试类型包括以下各项中的至少一项：(i)测试所述多个微凸块中的一个与接地电压之间的短路的操作；(ii)测试所述多个微凸块中的一个与电源电压之间的短路的操作；以及(iii)测试所述多个微凸块中的相邻微凸块之间的短路的操作。

3.如权利要求2所述的短路检测电路，其中，如果所述微凸块短路测试类型是测试所述多个微凸块中的一个与所述接地电压之间的短路的操作，则所述上拉驱动器输出控制电路被配置为将所述多个数据输出电路中的每一个的所述上拉驱动器的输出设置为弱接通状态，并且所述下拉驱动器输出控制电路被配置为将所述多个数据输出电路中的每一个的所述下拉驱动器的输出设置为关断状态。

4.如权利要求2所述的短路检测电路，其中，如果所述微凸块短路测试类型是测试微凸块中的一个与电源电压之间的短路的操作，则所述上拉驱动器输出控制电路被配置为将所述多个数据输出电路中的每一个的上拉驱动器的输出设置为关断状态，并且所述下拉驱动器输出控制电路被配置为将所述多个数据输出电路中的每一个的下拉驱动器的输出设置为弱接通状态。

5.如权利要求2所述的短路检测电路，其中，如果所述微凸块短路测试类型是测试所述多个微凸块中的相邻微凸块之间的短路的操作，

则所述上拉驱动器输出控制电路被配置为：

将与对应于短路测试目标的微凸块相连的所述上拉驱动器的输出设置为弱接通状态；以及

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相邻的微凸块相连的所述上拉驱动器的输出设置为关断状态；以及

所述下拉驱动器输出控制电路被配置为：

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相连的所述下拉驱动器的输出设置为关断状态；

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相邻的微凸块相连的所述下拉驱动器的输出设置为强接通状态。

6.如权利要求2所述的短路检测电路，其中，如果所述微凸块短路测试类型是测试所述多个微凸块中的相邻的微凸块之间的短路的操作，

则所述上拉驱动器输出控制电路被配置为：

将与对应于短路测试目标的微凸块相连的所述上拉驱动器的输出设置为关断状态；以及

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相邻的微凸块相连的所述上拉驱动器的输出设置为强接通状态；以及

所述下拉驱动器输出控制电路被配置为：

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相连的所述下拉驱动器的输出设置为弱接通状态；以及

将与对应于所述短路测试目标的微凸块相邻的微凸块相连的所述下拉驱动器的输出设置为弱接通状态。

7.如权利要求1所述的短路检测电路，其中，所述上拉驱动器输出控制电路被配置为：

设置所述上拉驱动器中的每一个的输出，以使得所述多个数据输出电路在第一操作模式中执行正常的数据输出操作；以及

设置所述上拉驱动器中的每一个的输出，以使得所述多个数据输出电路在第二操作模式中执行微凸块短路测试操作，

其中，所述第二操作模式是模式寄存器组(MRS)操作。