[发明专利]确定发射的无线电频率信号的空间辐射特性的系统方法

说明书

在此公开确定发射的无线电频率信号的空间辐射特性的系统方法。在示例性实施例中，RF装置包括接收器和天线。天线配置为接收包含一组调制信号段的反射射频信号。每个调制信号段具有唯一的调制模式，其指示射频信号反射器的相应信号反射片的时变反射特性。接收器可以包括用于处理调制信号段并确定入射在射频信号反射器上的射频信号的空间强度分布的电路。空间强度分布可以由该电路使用以确定由发射器发射的RF信号的空间辐射特性，以便产生反射的射频信号。可以结合到RF设备中的发射机包括波束操纵电路，其可以修改所发射的RF信号的空间辐射特性以用于解决未对准。

背景技术

通信系统出于各种原因通常采用毫米波射频(RF)信号，这些原因包括可以通过这种信号实现的窄波束特性。窄波束特性提供了可以被精确地导向目标天线并由于更高增益(例如，与全向RF信号相比)而使更大的信号在所选方向上抵达的聚焦波束。

使用毫米波RF信号的另一原因可归因于对这些信号进行操作所使用的部件的尺寸减小。可以容易地封装在集成电路(IC)内部的这种组件不仅可以包括与RF发射器、RF接收器、信号调节器和/或信号处理器相关联的电路组件，而且还可以包括RF天线。通常，RF天线被制造在IC的衬底上，并且集成到封装中，并且不能相对于封装物理地移动，以用于当发送毫米波RF时将RF天线定向在期望的方向。然而，可以通过使用波束控制电路电子地操纵波束并向发射的毫米波RF信号提供期望的辐射特性来解决这个问题。

通常，波束控制电路包含一个或多个相位延迟元件，其用于选择性地改变毫米波RF信号的相对相位特性，以便执行波束操纵。不幸的是，由相位延迟提供的相位延迟量在一批IC中的第一IC内制造的第一相位延迟元件可能不同于与在该批IC中的另一类似IC内制造的类似相位延迟元件提供的相位延迟量。这可能由于各种因素而发生，例如部件到部件的变化和制造公差。具有这样的差异的最终结果不仅在相位延迟元件中，而且在RF IC的各种其它元件中也可能导致从一个RF IC到另一个RF IC的RF波束辐射特性的不可接受水平的失配。

传统上通过使用需要复杂的测试设备和复杂测试技术的测试和/或质量保证(QA)程序来解决该问题。可以理解，许多这样的传统测试过程可能最终是相当费时和昂贵的。

发明内容

本公开的某些实施例可以提供用于确定由RF发射器发射的射频(RF)信号的空间辐射特性的技术效果和/或解决方案。为此，RF信号由RF发射器朝向RF信号反射器发射。所发射的RF信号的至少一部分被RF信号反射器的多个信号反射片反射。RF信号反射器特别配置为使用一组调制码序列来调制在唯一可识别的时变模式中的每个信号反射砖的反射属性。因此，由RF信号反射片反射的RF信号的一部分包含一组调制信号段，每个调制信号段部分地由唯一可识别的时变模式加以表征。

反射的RF信号可以在设备的RF接收器中接收，并且被处理以不仅识别每个RF信号反射片(使用存在于每个调制信号段中的唯一可识别的时变模式)，而且还执行关于调制信号段的信号强度测量。RF信号反射片的识别和对调制信号段执行的信号强度测量然后在发射的RF信号命中RF信号反射器时用于确定发射的RF信号的空间强度分布。空间强度分布可以用于各种目的，包括用于确定由RF发射器发射的RF信号的空间辐射特性的目的。

根据本公开的一个示例性实施例，一种方法可以包括各种操作，诸如从第一射频设备发送第一射频信号，并且接收射频信号反射器中第一射频信号的至少一部分。包括多个信号反射片的射频信号反射器产生被反射回第一射频设备和/或第二射频设备的一组调制信号段。通过使用第一调制码序列调制第一时间变化模式中的第一信号反射片的反射率并从中产生指示第一时变反射特性的第一调制信号段，并且通过使用第二调制码序列调制第二时变模式中的第二信号反射片的反射率并从中产生指示第二时变反射特性的第二调制信号段，执行所述生成。该方法还可以包括诸如这样的操作：在第一射频设备和/或第二射频设备中接收该组调制信号段；在所述第一射频设备和/或所述第二射频设备中处理所述一组调制信号段以确定所述第一射频信号在所述射频信号反射器上的空间强度分布；使用所述空间强度分布以确定从所述第一射频设备发射的所述第一射频信号的一个或多个空间辐射特性。