[发明专利]检测方法及装置

权利要求书

1.一种检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取基准成像光谱数据及待测物品表面的成像光谱数据；

根据所述基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率；

将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；

若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致；

若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致的步骤之前，所述方法还包括：

获取所述待测物品的三维空间形态信息；

根据所述待测物品的三维空间形态信息对所述待测物品进行三维重建，得到所述待测物品的三维形态数据；

将所述待测物品的三维形态数据与所述标定库中所述原物品的三维形态数据进行匹配；

所述的若所述光谱反射率匹配成功，判定所述待测物品与所述原物品一致，包括：

若所述光谱反射率以及所述三维形态数据均匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述的获取所述待测物品的三维空间形态信息，包括：

获取所述待测物品表面的成像光谱数据中的图像信息；

根据所述图像信息得到所述待测物品的三维空间形态信息。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述的获取所述待测物品的三维空间形态信息，包括：

获取对所述待测物品进行拍摄得到的图像序列；

根据所述图像序列得到所述待测物品的三维空间形态信息。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述的若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致，包括：

若所述光谱反射率匹配失败或者所述三维形态数据匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，所述的根据所述基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品表面的光谱反射率，包括：

根据所述基准成像光谱数据得到第一光谱能量数据；

根据所述待测物品表面的成像光谱数据得到第二光谱能量数据；

根据所述第一光谱能量数据、第二光谱能量数据以及基准反射率得到所述待测物品的光谱反射率。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基准成像光谱数据以及所述待测物品表面的成像光谱数据是在相同的成像光照条件下得到的。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述成像光谱数据为成像超光谱数据。

9.一种检测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一获取模块，用于获取待测物品表面的成像光谱数据；

处理模块，用于根据基准成像光谱数据及所述待测物品表面的成像光谱数据得到所述待测物品的光谱反射率；

第一匹配模块，用于将所述待测物品的光谱反射率与标定库中对应于该待测物品的原物品的光谱反射率进行匹配；

判定模块，用于若所述光谱反射率匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致，若所述光谱反射率匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。

10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二获取模块，用于获取所述待测物品的三维空间形态信息；

三维重建模块，用于根据所述待测物品的三维空间形态信息对所述待测物品进行三维重建，得到所述待测物品的三维形态数据；

第二匹配模块，用于将所述待测物品的三维形态数据与所述标定库中所述原物品的三维形态数据进行匹配；

所述判定模块具体用于若所述光谱反射率以及所述三维形态数据均匹配成功，则判定所述待测物品与所述原物品一致，若所述光谱反射率匹配失败或者所述三维形态数据匹配失败，则判定所述待测物品与所述原物品不一致。