[发明专利]脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子电器技术领域，具体而言，涉及一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置。

背景技术

脉冲宽度调制器是现代开关电源的重要组成部分，应用于空间辐射环境中的脉冲宽度调制器(PWM)，在空间带电粒子和各种射线的作用下，其性能会发生明显变化，包括输出脉冲的缺失、变形，时针控制的闩锁和控制环路的瞬变；因此如何对应用于空间环境中的脉冲宽度调制器进行抗辐照能力的测试，进而筛选出抗辐照能力强的脉冲宽度调试器进行使用具有十分重要的意义。

现有技术中，对航天用脉冲宽度调制器的抗辐照能力的测试和筛选的方式主要有两种，包括：“辐照-退火”方法和多元回归分析法；其中，辐照-退火筛选方法具体过程如图1所示，首先对待筛选器件进行额定剂量的辐照；然后选择一种或者几种灵敏电参数，在两小时内完成测量，筛选掉不符合要求的器件；接着进行50％额定剂量的辐照；接着加压退火后再次进行电测试；最后筛选出合适的器件；这种方法具有检测成本高、检测时间长和对器件本省具有一定的破坏性的缺陷；并且由于采用大剂量率试验来等效空间低剂量率辐照环境的方法，模拟结果往往不准确。现有技术中的多元回归分析方法可以避免对待筛选脉冲宽度调制器的损伤，此种筛选方法的关键是选取辐照前的敏感参数，对辐照后器件性能参数进行预估。前者的敏感参数称为信息参数，想要预估的辐照后器件性能参数称为辐射性能参数。即对同一工艺制造出来的器件，通过对一定数量随机样品进行辐照试验，找出信息参数和辐射性能参数之间的函数关系，进而实现对未辐照器件的筛选，但是现有技术中的回归分析法忽视了辐照与PWM器件内部的缺陷的关系，导致回归预测方程不够准确，最终影响脉冲宽度调制器的筛选的准确性和可靠性。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提供一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置，以解决上述问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法，包括：

获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值；

获取所述作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流；

以所述输出占空比和15Hz噪声点频值作为信息参数，以所述输入灌电流作为辐照性能参数，采用线性回归法建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；

基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；

利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个脉冲宽度调制器的抗辐照性能，对同批其他脉冲宽度调制器进行筛选。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中：

所述获取所述作为随机子样的脉冲宽度调制器的15Hz噪声点频值包括：

采集脉冲宽度调制器输出端的输出信号；

对所述输出信号进行滤波，得到低频噪声电压功率谱图形；

基于所述低频噪声电压功率谱图形，提取低频噪声电压功率谱的15Hz噪声点频值。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中：

所述利用所述无损筛选回归预测方程，测试单个脉冲宽度调制器的抗辐照性能，对同批脉冲宽度调制器进行筛选，包括：

获取待筛选脉冲宽度调制器的输出占空比和15Hz噪声点频值；

基于所述输出占空比和15Hz噪声点频值，利用所述回归预测方程，得到此脉冲宽度调制器的输入灌电流预测值；

将所述输入灌电流预测值和此批脉冲宽度调制器的输入灌电流容限进行比较，如果所述预测值在此类脉冲宽度调制器的输入灌电流容限之内，则认为此脉冲宽度调制器为合格产品；反之，如果所述预测值不在此类脉冲宽度调制器的输入灌电流容限之内，则认为此脉冲宽度调制器为不合格产品。

第二方面，本发明实施例提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选装置，包括：

第一获取单元，获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值脉冲宽度调制器；

第二获取单元，用于获取所述作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流脉冲宽度调制器；

线性回归方程建立单元，用于以所述输出占空比和15Hz噪声点频值作为信息参数，以所述输入灌电流作为辐照性能参数，采用线性回归法建立多元线性回归方程为，并计算线性回归方程中的系数向量脉冲宽度调制器；

无损筛选回归预测方程建立单元，用于基于所述系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；