[发明专利]具有辅助电力供应引脚的集成电路

权利要求书

1.集成电路（1），包括分别为正极和接地的两个电力供应端子（2a、2b），形成集成电路（1）内部的第一电力供应系统（2）的部分并使用所述集成电路（1）外部的电力供应源提供所述集成电路（1）的电力供应，其特征在于：集成电路（1）包括分别为正极和接地的两个引脚（3a、3b），形成第二电力供应系统（3）的部分并提供所述集成电路（1）与外部的辅助电连接，所述第二电力供应系统（3）与所述第一电力供应系统（2）并联且被配置为连接到测试装置并且提供所述集成电路与所述测试装置的辅助电连接，使得来自所述测试装置的刺激脉冲能够在所述集成电路处被接收，

其中，在测试所述集成电路期间，所述第一电力供应系统断开，以便不允许电流流动并且所述集成电路的主要电力供应不被启用，并且第二电力供应系统闭合，以便在第二电力供应系统处接收由测试装置产生的刺激脉冲，以及当未实施所述集成电路的测试时，第二电力供应系统断开以便不允许电流流动，并且第一电力供应系统闭合以便允许电流流动。

2.根据权利要求1所述的集成电路（1），其中第一和第二电力供应系统（2、3）的每个端子（2a、2b）或引脚（3a、3b）通过包括微型开关（4a、4b；5a、5b）的相应电连接而连接到所述系统（2、3）的其余部分，所述第一电力供应系统（2）的微型开关（4a、4b）在第二电力供应系统（3）的微型开关（5a、5b）处于闭合位置时处于断开位置，反之亦然。

3.根据权利要求2所述的集成电路（1），其配备有：用于检测所述第二电力供应系统（3）的引脚（3a、3b）上的电压的构件；用于把所述第一电力供应系统（2）的微型开关（4a，4b）设置到断开位置的构件；以及用于一旦在所述第二电力供应系统（3）的引脚（3a、3b）上检测到电压就把所述第二电力供应系统（3）的微型开关（5a、5b）设置到闭合位置的构件。

4.根据权利要求2和3中任一项所述的集成电路（1），其配备有：用于检测跨所述第一电力供应系统（2）的端子（2a、2b）的电压的构件；用于将所述第二电力供应系统（3）的微型开关（5a、5b）设置到断开位置的构件；以及一旦跨所述第一电力供应系统（2）的端子（2a、2b）检测到电压就把所述第一电力供应系统（2）的微型开关（4a、4b）设置到闭合位置的构件。

5.电子板，其特征在于，其包括至少一个根据权利要求1-4中任一项所述的集成电路（1）。

6.用于测试根据权利要求1至4中任一项所述的集成电路（1）或容纳在根据权利要求5所述的电子板内的集成电路（1）的方法，测试刺激脉冲由测试装置发送到集成电路（1），所述测试装置在测试期间电连接到所述集成电路（1），其特征在于，所述测试装置通过与所述第一电力供应系统（2）并联的第二电力供应系统（3）电连接到所述集成电路（1），所述第一电力供应系统（2）保持在断开位置。

7.根据权利要求6所述的方法，其包括以下步骤：

• 将测试装置连接到所述第二电力供应系统（3）的分别为正极和接地的引脚（3a、3b）；

• 一旦进行该连接，就断开所述第一电力供应系统（2）并闭合所述第二电力供应系统（3）；

• 通过经由所述第二电力供应系统（3）将刺激脉冲从测试装置发送到集成电路（1）来实施测试；

• 在完成测试之后，断开所述第二电力供应系统（3）；

• 将所述测试装置与所述第二电力供应系统（3）的分别为正极和接地的引脚（3a、3b）断开；以及

• 闭合所述第一电力供应系统（2）。

8.用于实施根据权利要求6或7所述的方法的测试设备，所述设备包括：将刺激脉冲发送到所述集成电路（1）的刺激脉冲发生器；用于接收在所述刺激脉冲之后来自所述集成电路（1）的响应的构件，其特征在于，所述设备包括以下形式的电接触构件（10a、10b）：由所述装置承载的将其自身定位在每个引脚（3a、3b）上的接触构件或焊接到每个引脚（3a、3b）并连接到脉冲发生器的电线。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其中每个接触构件（10a、10b）采取夹子的形式，所述夹子配备有两个夹爪，所述夹爪在它们之间夹持所述集成电路（1）的第二电力供应系统（3）的相应引脚（3a、3b）。