[发明专利]带隙基准电路有效

专利信息
申请号: 201710068655.6 申请日: 2017-02-08
公开(公告)号: CN106843352B 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 周宁 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: G05F1/56 分类号: G05F1/56
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基准 电路
【权利要求书】:

1.一种带隙基准电路,其特征在于,包括:

第一PMOS晶体管(Pmirr),第一NMOS晶体管(NMO),第一运算放大器(YF1),第一PNP晶体管(Q0),第二PNP晶体管(Q1),第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R0);

第一PMOS晶体管(Pmirr)的源极与电源电压端VDD相连接,其栅极与电流偏置电路的输出端PB相连接,其漏极与第三电阻(R3)的一端、第一NMOS晶体管(NMO)的漏极以及第四电阻(R4)的一端相连接,该连接的节点作为带隙基准电路的基准电压VBG输出端;

所述第三电阻(R3)的另一端与第一电阻(R1)的一端和第二电阻(R2)的一端相连接;

所述第一电阻(R1)的另一端与第一PNP晶体管(Q0)的发射极和运算放大器(YF1)的反向输入端相连接;第一PNP晶体管(Q0)的基极和集电极接地;

所述第一运算放大器(YF1)的正向输入端与第二电阻(R2)的另一端和第六电阻(R0)的一端相连接,第六电阻(R0)的另一端与第二PNP晶体管(Q1)的发射极相连接;第二PNP晶体管(Q1)的基极和集电极接地;

所述第一运算放大器(YF1)的输出端与第一NMOS晶体管(NMO)的栅极相连接,第一NMOS晶体管(NMO)的源极接地;

所述第四电阻(R4)的另一端与第五电阻(R5)的一端相连接,第五电阻(R5)的另一端接地。

2.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于,还包括:一电流偏置电路,其包括:第二PMOS晶体管(PM0)、第三PMOS晶体管(PM1)、第二NMOS晶体管(NM1)和第三NMOS晶体管(NM2),以及第七电阻(Rb);

第二PMOS晶体管(PM0)和第三PMOS晶体管(PM1)的源极与电源电压端VDD相连接;第二PMOS晶体管(PM0)的栅极和第三PMOS晶体管(PM1)的栅极和漏极与第三NMOS晶体管(NM2)漏极相连接,其连接的节点作为电流偏置电路的输出端PB;

第二PMOS晶体管(PM0)的漏极与第二NMOS晶体管(NM1)的漏极和栅极以及第三NMOS晶体管(NM2)的栅极相连接;

所述第二NMOS晶体管(NM1)的源极接地,第三NMOS晶体管(NM2)的源极与第七电阻(Rb)的一端相连接,第七电阻(Rb)的另一端接地。

3.如权利要求2所述的带隙基准电路,其特征在于,还包括:一所述电流偏置电路的启动电路,其包括:第四PMOS晶体管(PSTP),第五PMOS晶体管(PST)和第四NMOS晶体管(Ncap);

第四PMOS晶体管(PSTP)的源极与电源电压端VDD相连接,其栅极与所述电流偏置电路中第二PMOS晶体管(PM0)和第三PMOS晶体管(PM1)的栅极相连接;

第四PMOS晶体管(PSTP)的漏极与第五PMOS晶体管(PST)的栅极和第四NMOS晶体管(Ncap)的栅极相连接;第五PMOS晶体管(PST)的源极与电源电压端VDD相连接;第五PMOS晶体管(PST)的漏极与所述电流偏置电路中第二NMOS晶体管(NM1)的漏极和栅极相连接;

第四NMOS晶体管(Ncap)的源极和漏极接地。

4.如权利要求2所述的带隙基准电路,其特征在于:电源上电后,电流偏置电路先建立,第一PMOS晶体管(Pmirr)镜像所述电流偏置电路的第三PMOS晶体管(PM1)的电流为带隙基准电路提供工作电流,带隙基准电路建立产生基准电压VBG;第一PMOS晶体管(Pmirr)镜像产生电流,为输出的基准电压VBG提供电流驱动能力。

5.如权利要求1所述的带隙基准电路,其特征在于:线性分压输出小于基准电压VBG的任意基准电压。

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