[发明专利]检查系统有效

专利信息
申请号: 201710071050.2 申请日: 2017-02-09
公开(公告)号: CN107561082B 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 木村结贵;松井明;稻积伸悟 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01B11/00;G06T7/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;邓毅
地址: 日本国京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种检查系统,其具有:检查装置,其检查对象物的外观;以及控制装置,其控制所述检查装置,在所述检查系统中,

所述检查装置具有:

大致柱状的第1主体部,其具有能够供所述对象物通过的第1贯通孔;以及

多个摄像部,它们设置于所述第1主体部的形成所述第1贯通孔的内周面,

所述控制装置具有:

图像处理部,其对从各所述摄像部输出的拍摄图像进行处理,以用于所述检查;以及

通信部,其与外部装置进行通信,

所述外部装置包含具有第1支承部和驱动部的支承装置,该第1支承部具有手机构,构成为对所述对象物进行支承,

所述控制装置还具有基于所述对象物的中心位置将所述手机构定位于用于以规定姿势把持所述对象物的位置和方向的单元,

所述控制装置控制所述通信部将用于控制所述驱动部的控制信号发送到所述支承装置,以便使以所述规定姿势支承着所述对象物的所述第1支承部通过所述第1贯通孔,

所述检查装置还具有:

大致柱状的第2主体部,其具有能够供所述对象物通过的第2贯通孔;以及

多个计测传感器,它们设置于所述第2主体部的形成所述第2贯通孔的内周面,并且计测所述对象物的外观,

所述控制装置具有计测处理部,该计测处理部对从各所述计测传感器输出的计测值进行处理,以用于检查,

在所述对象物通过所述第2贯通孔时实施计测所述对象物的外观尺寸的计测处理,在所述对象物通过所述第1贯通孔时实施用于检测所述对象物的表面的损伤的图像处理。

2.根据权利要求1所述的检查系统,其中,

所述支承装置还具有第2支承部,该第2支承部用于支承所述对象物,

所述控制装置进一步控制所述通信部将用于控制所述驱动部的控制信号发送到所述支承装置,以便使所述第2支承部从所述第1支承部接收通过所述第1贯通孔后的所述对象物。

3.根据权利要求1或2所述的检查系统,其中,

所述检查装置还具有光源,该光源照射所述第1贯通孔的内部。

4.根据权利要求1所述的检查系统,其中,

该检查系统还具有多个计测传感器,该多个计测传感器设置于所述第1主体部的内周面,并且计测所述对象物的外观,

所述控制装置具有计测处理部,该计测处理部对从各所述计测传感器输出的计测值进行处理,以用于检查。

5.根据权利要求1所述的检查系统,其中,

所述第1主体部和所述第2主体部沿着通过所述第1贯通孔和所述第2贯通孔的假想轴层叠,

所述假想轴与所述对象物通过的路径对应。

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