[发明专利]获取存储器物理不可克隆函数的方法和系统

权利要求书

1.一种获取存储器物理不可克隆函数的方法，其特征在于，所述方法包括：

在各种环境参数下对存储器进行上电，并统计所述存储器的每个存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值；

基于所述统计的结果确定所述每个存储单元的统计特征值；以及

基于所述每个存储单元的单元地址及其统计特征值生成所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述统计的结果确定所述每个存储单元的统计特征值包括：

当存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值均为“0”时，该存储单元的统计特征值为“0”；

当存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值均为“1”时，该存储单元的统计特征值为“1”；

当存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值包括“0”和“1”、且为“0”的概率大于等于预定阈值时，该存储单元的统计特征值为“F”，其中“F”表示该存储单元为“0”偏向的存储单元；

当存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值包括“0”和“1”、且为“1”的概率大于等于所述预定阈值时，该存储单元的统计特征值为“T”，其中“T”表示该存储单元为“1”偏向的存储单元；

当存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值的情况不属于上述四种情况中的任一种时，该存储单元的统计特征值为“X”，其中“X”表示该存储单元为“0/1”随机的存储单元。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述每个存储单元的单元地址及其统计特征值生成所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列包括：

将所述存储器的各存储单元的统计特征值添加在对应的存储单元的地址值之后以构成各存储单元的特征值序列；以及

按照所述各存储单元的地址顺序对所述各存储单元的特征值序列进行排列并组合，以作为所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的方法，其特征在于，所述各种环境参数包括多个电压值与多个温度值的遍历组合。

5.根据权利要求1-3中的任一项所述的方法，其特征在于，所述存储器为静态随机存取存储器。

6.一种用于实现权利要求1-5中的任一项所述方法的系统，其特征在于，所述系统包括控制单元、环境参数调节单元、存储器以及计算单元，其中：

所述控制单元与所述环境参数调节单元连接，用于控制所述环境参数调节单元生成各种环境参数；

所述环境参数调节单元与所述存储器连接，用于向所述存储器输出所述各种环境参数；

所述控制单元与所述存储器连接，用于控制所述存储器在所述各种环境参数下进行上电；以及

所述计算单元与所述存储器连接，用于统计所述存储器的每个存储单元在所述各种环境参数下的初始逻辑值、基于所述统计的结果确定所述每个存储单元的统计特征值、并基于所述每个存储单元的单元地址及其统计特征值生成所述存储器的物理不可克隆函数特征值序列。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述环境参数调节单元包括电压调节器和温度调节器。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述电压调节器包括选择电压输出单元和多个分压电阻，工作电压通过所述分压电阻连接到地，所述选择电压输出单元在所述控制单元的控制下向所述存储器输出不同的电压。

9.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述温度调节器包括计数器，所述计数器在所述控制单元的控制下向所述存储器循环写入“0”和“1”，以调节所述存储器的温度。

10.根据权利要求6-9中的任一项所述的系统，其特征在于，所述存储器为静态随机存取存储器。