[发明专利]一种开关电源性能测试方法、系统及装置

说明书

技术领域

本发明涉及开关电源测试领域，具体是一种开关电源性能测试方法、系统及装置，其将多个不同类型、但均用于测试开关电源性能的测试仪器的测试指令集合在一起，利用测试仪器GPIB地址的唯一性，实现对测试指令的自动选择，从而增加对不同类型甚至不同品牌的用于测试开关电源性能的测试仪器的适用性。

背景技术

开关电源是一种高频开关式的能量变换电子电路，常作为设备的电源供应器。在电子设计领域，开关电源以其体积小、重量轻、功耗小、效率高、转换速度快、稳压范围宽、滤波效率好、所需滤波电容的数量少等诸多优点，成为电子产品设计领域最重要的供电设计方式。

随着服务器和PC行业的迅速发展，对开关电源的性能提出了更高的要求。而在现有技术中，在同一个开关电源测试系统中，经常出现需要更换一台或多台测试仪器的情况，而现有技术中尚未出现好的开关电源测试技术，不仅更换不便，有时还存在开关电源测试软件与所更换测试仪器的兼容问题，在很大程度上影响测试效率。此为现有技术的不足之处。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，针对现有技术的不足，提供一种开关电源性能测试方法、系统及装置，用于增加对不同类型甚至不同品牌的用于测试开关电源性能的测试仪器的适用性，以提高测试效率。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种开关电源性能测试方法，包括：

步骤A、预先获取并存储用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令，建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系；

步骤B、实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址；

步骤C、基于步骤A中建立的各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系，分别调用与步骤B中所采集的各GPIB地址相对应的相应测试指令；

步骤D、基于步骤C中调用的相应的测试指令，分别控制对开关电源的性能测试。

其中，步骤A中所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表，信号发生器。

在步骤A中，建立各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为：

以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签，建立一个分支选择结构；

将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。

本发明还提供了一种开关电源性能测试系统，包括：

GPIB地址采集单元，用于实时采集当前用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的GPIB地址；

存储单元，用于本系统的数据存储，包括用于存储预先采集的用于测试开关电源性能的各相关测试仪器的测试指令、以及用于存储预先建立的上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系；

控制单元，连接所述的GPIB地址采集单元和存储单元，其基于存储单元存储的相应测试指令与相应GPIB地址的一一对应关系，调用与所述GPIB地址采集单元当前所采集到的各GPIB地址相对应的相应测试指令，分别控制对开关电源的性能测试。

在该开关电源性能测试系统中，所述的各相关测试仪器包括直流电源、示波器、电子负载仪、万用表，信号发生器。

在该开关电源性能测试系统中，预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为：

以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签，建立一个分支选择结构；将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。

本发明还提供了一种开关电源性能测试装置，包括开关电源性能测试装置本体，该所述的开关电源性能测试装置本体包括如上所述的开关电源性能测试系统。

在该开关电源性能测试装置中，所述开关电源性能测试系统中预先建立上述各测试指令及其对应测试仪器的GPIB地址的一一对应关系的方法为：以所述的各相关测试仪器的GPIB地址作为选择器标签，建立一个分支选择结构；将各测试指令分别存放在该分支选择结构的分支中。

与现有技术相比，本发明的优点在于：