[发明专利]显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法

说明书

本发明提供了显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法，显示器件包括：一背板；一有机发光材料，形成于背板的第一侧；一第一电极，形成于背板的第一侧，第一电极的图案为环形，第一电极环绕有机发光材料；一封装薄膜，形成于有机发光材料远离背板的一侧，封装薄膜与背板密封有机发光材料和第一电极；以及一第二电极，形成于封装薄膜远离背板的一侧，第二电极与第一电极在背板上的投影具有重叠区域。本发明通过在封装薄膜容易破裂的区域的上表面和下表面分别设计第一电极和第二电极，能够在不刺破封装薄膜的前提下，及时检测薄膜封装的完整性，没有增加额外制程，而且简单易操作。

技术领域

本发明涉及显示器件领域，尤其涉及一种高像素AMOLED显示器件中的显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法。

背景技术

随着显示屏技术的发展，可折叠产品越来越受到大家的关注，但是在可折叠产品(即“柔性”)方面的技术目前还未很成熟，不像玻璃制程趋于稳定，并且良率易于管控，在柔性产品部分，诸多制程方面有着不确定的因素。

图1为现有技术的显示面板的剖面示意图。如图1所示，现有的显示面板包括背板1’、有机发光材料(例如：OLED材料)2’、封装薄膜4’以及偏光片6’。有机发光材料2’形成于背板1’之上，然后通过封装薄膜4’封装有机发光材料2’，偏光片6’形成于封装薄膜4’之上。但是在封装薄膜4’封装的过程中，容易出现破裂。

目前在薄膜封装部分，良率一直在不可控范围内，无法及时检测薄膜封装的完整性是关键因素之一；薄膜封装破裂导致水汽进入会使有机发光材料失效，造成无法补救的损失。

目前薄膜封装是在蒸镀完有机发光材料之后，在背板1’上面镀上一层封装薄膜4’，膜厚大概在1～2um左右，目前薄膜封装很容易在成膜的时候破裂，特别是在和背板1’接触的边缘，容易发生破裂，而且无法通过目前的制程及时发现。图2为图1中易裂区域的示意图。如图2所示，其中封装薄膜4’与背板1’接触的边缘(例如：D区域)容易发生破裂，导致水汽进入。

有鉴于此，发明人提供了一种显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的在于提供显示器件、显示面板以及显示面板封装良率的测量方法，克服了现有技术的困难，能够及时检测薄膜封装的完整性，没有增加额外制程，而且简单易操作。

根据本发明的一个方面，提供一种显示器件，包括：

一背板；

一有机发光材料，形成于所述背板的第一侧；

一第一电极，形成于所述背板的第一侧，所述第一电极的图案为环形，所述第一电极环绕所述有机发光材料；

一封装薄膜，形成于所述有机发光材料远离所述背板的一侧，所述封装薄膜与所述背板密封所述有机发光材料和第一电极；以及

一第二电极，形成于所述封装薄膜远离所述背板的一侧，所述第二电极与所述第一电极在所述背板上的投影具有重叠区域。

优选地，所述第二电极在所述背板上的投影包含所述第一电极在所述背板上的投影。

优选地，所述第二电极的图案为环形，所述第二电极环绕所述有机发光材料，所述第二电极的外边缘超出所述第一电极的外边缘。

优选地，所述第一电极的内边缘与所述有机发光材料的外边缘之间具有第一间距。

优选地，所述第一间距的范围是2um至10um。

优选地，所述第二电极的内边缘与所述有机发光材料的外边缘之间具有第二间距。

优选地，所述第二间距的范围是2um至10um。