[发明专利]栅极驱动电路的检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种栅极驱动电路的检测装置，还涉及一种栅极驱动电路的检测方法。

背景技术

目前，越来越多的液晶显示面板采用在阵列基板上制作栅极驱动电路(Gate Driver on Array,GOA)技术来减少阵列基板的边框宽度，从而迎合液晶显示面板的窄边框设计趋势。为了对异常液晶显示面板进行输出信号检测和分析，需要增加对应检测电路。

在现有的用于检测薄膜晶体管显示器(TFT-LCD)的栅极驱动电路的检测电路中，通常利用金属走线将栅极驱动电路的输出端与测试垫(Test Pad，也称为测试点位)直接连接在一起。在检测面板异常时，薄膜晶体管显示器的探针部件检测测试垫输出的信号，并据此判定该薄膜晶体管显示器的栅极驱动电路是否出现异常。然而，测试垫一般采用大块金属，而大块金属通常易引起静电风险。在产品生产运输等过程中，由于测试垫与栅极驱动电路的输出端始终连接，因此由栅极驱动电路的输出端始终与测试垫连接导致的静电释放(ESD)容易导入栅极驱动电路，导致构成栅极驱动电路的薄膜晶体管的击穿和损坏。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：由于现有技术将栅极驱动电路的输出端始终与由大块金属构成的测试垫连接在一起，因此在产品生产运输等过程中，由栅极驱动电路的输出端始终与测试垫连接导致的静电释放(ESD)容易导入栅极驱动电路，导致构成栅极驱动电路的薄膜晶体管的击穿和损坏。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种栅极驱动电路的检测装置及检测方法。

根据本发明的第一个方面，提供了一种栅极驱动电路的检测装置，其包括测试垫及电连接所述栅极驱动电路和所述测试垫的连接件，所述连接件包括第一连接部、第二连接部和第三连接部；

其中，所述第一连接部的第一端与所述栅极驱动电路的输出端电性连接，所述第二连接部的第一端与所述测试垫电性连接；

所述第一连接部的第二端与所述第三连接部电性连接，所述第二连接部的第二端与所述第三连接部电性绝缘。

优选的是，所述第一连接部和所述第二连接部设置在第一金属层，所述第三连接部设置在第二金属层，且所述第一金属层和第二金属层绝缘设置。

优选的是，所述第一金属层和第二金属层之间设置有绝缘层，以使所述第一金属层和第二金属层绝缘设置。

优选的是，所述绝缘层上设置有至少一个过孔，所述第一连接部的第二端通过所述过孔与所述第三连接部电性连接。

优选的是，所述第一金属层还包括显示面板的扫描线的图案以及所述显示面板的开关元件的栅极的图案。

优选的是，所述第二金属层还包括显示面板的数据线的图案以及所述显示面板的开关元件的源极和漏极的图案。

优选的是，所述绝缘层由氮化硅制成；和/或

所述第一金属层由钼/铝制成，所述第二金属层由钼/铝/锗制成。

优选的是，在检测面板异常时，所述第二连接部的第二端与所述第三连接部之间的绝缘材料通过镭射被熔化，以使得所述第二连接部的第二端与所述第三连接部电性连接。

根据本发明的第二个方面，提供了一种栅极驱动电路的检测方法，其包括：

提供一检测装置，并使所述检测装置包括测试垫及电连接所述栅极驱动电路和所述测试垫的连接件，所述连接件包括第一连接部、第二连接部和第三连接部；其中，所述第一连接部的第一端与所述栅极驱动电路的输出端电性连接，所述第二连接部的第一端与所述测试垫电性连接；所述第一连接部的第二端与所述第三连接部电性连接，所述第二连接部的第二端与所述第三连接部电性绝缘；

判断是否需要检测所述栅极驱动电路；

在判断出需要检测所述栅极驱动电路时，通过镭射熔化所述第二连接部的第二端与所述第三连接部之间的绝缘材料，以使所述第二连接部的第二端与所述第三连接部电性连接，从而使栅极驱动电路的输出信号依次经过所述连接件和所述测试垫输出。

优选的是，还包括：

根据所述测试垫输出的信号，确定所述栅极驱动电路的状态。

与现有技术相比，上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果：