[发明专利]分析设备和分析系统

说明书

提供了一种能够提高分析结果的准确度的分析设备以及一种分析系统。分析设备(100)在作为生产设施的磨床(1)生产作为生产对象的曲轴(W)的过程中做出关于生产设施的质量状况或生产对象的质量状况的预测。分析设备(100)包括：多个预测器(A至H)，其基于关于生产设施的数据通过使用不同的分析方法来做出关于质量的预测；选择单元(112)，其从多个预测器(A至H)选择多个使用预测器；以及总体预测器(113)，其基于由选择单元(112)选择的多个使用预测器获得的多个预测结果来计算关于质量的综合预测结果。

技术领域

本发明涉及分析设备和分析系统。

背景技术

在专利文献1中，公开了一种分析模型确定装置，该分析模型确定装置旨在通过从三个分析模型中确定出最佳分析模型来提高分析的准确度。根据专利文献1的分析模型确定装置包括数据分析单元，该数据分析单元将学习数据应用于要学习的三个分析模型，然后，对每个分析模型采用评估数据来测量缺省概率。之后，数据分析单元对三个分析模型的相应测量结果进行比较，并且将具有最高准确度的分析模型确定为最佳分析模型。

相关技术列表

专利文献

[专利文献1]：JP2002-109208A

发明内容

本发明要解决的问题

这里，已知有一种分析设备，该分析设备在生产设施生产和加工生产对象的过程中在生产期间做出关于生产设施的质量状况或生产对象的质量状况的预测。在这样的分析设备中，预测准确度趋于根据生产设施被布置的环境或生产设施的使用状态而不同。因此，通过基于之前学习的测量结果确定的分析模型的预测准确度可能小于另一分析模型的预测准确度。在该情况下，降低了分析设备的分析结果的准确度。

本发明的目的是提供一种能够提高分析结果的准确度的分析设备和分析系统。

解决问题的手段

公开了一种根据本发明的分析设备，该分析设备在生产设施对生产对象进行生产的过程中做出关于生产设施的质量状况或生产对象的质量状况的预测，该分析设备包括：多个预测器，其基于关于生产设施的数据通过使用不同的分析方法来做出关于质量的预测；选择单元，其从多个预测器中选择多个使用预测器；总体预测器，其基于由多个使用预测器获得的多个预测结果来计算关于质量的综合预测结果；以及预测准确度计算单元，其基于由多个预测器各自做出的预测结果和关于质量的检验结果来计算由多个预测器各自做出的预测的准确度，其中，选择单元基于由预测准确度计算单元计算的预测准确度来从多个预测器中选择多个使用预测器。

在根据本发明的分析设备中，选择单元基于预测准确度来从多个预测器中选择多个使用预测器，并且总体预测器使用所述多个使用预测器，由此可以在生产设施被布置的环境和生产设施的使用状态中获得高预测准确度。总体预测器基于由多个使用预测器获得的多个预测结果来计算关于生产设施的质量状况或生产对象的质量状况的综合预测结果。因此，根据本发明的分析设备可以提高分析结果的准确度。

预测准确度计算单元基于由多个预测器各自做出的预测结果和关于质量的检验结果来计算由多个预测器各自做出的预测的准确度。然后，选择单元基于由预测准确度计算单元计算的预测准确度来选择使用预测器。因此，总体预测器可以基于由具有高预测准确度的多个使用预测器获得的多个预测结果来计算综合预测结果。因此，根据本发明的分析设备可以提高分析结果的准确度。

根据本发明的分析系统包括作为上述分析设备的第一分析设备和第二分析设备，第二分析设备连接至网络以与第一分析设备进行数据通信。第二分析设备被设置成通过使用多个预测器中的与使用预测器不对应的辅助预测器做出关于质量的预测，并且计算由辅助预测器做出的预测的准确度。选择单元基于由预测准确度计算单元计算的使用预测器的预测准确度和在第二分析设备中计算的从辅助预测器获得的预测准确度来使用具有较高预测准确度的辅助预测器替换已经被选择作为使用预测器的预测器中的一部分预测器。