[发明专利]电子部件测试用分选机

说明书

本发明涉及电子部件测试用分选机。本发明的电子部件测试用分选机包括：加载装置，用于将待测试的多个电子部件从供给用托盘加载至测试托盘；连接装置，用于使装载于上述测试托盘的多个电子部件与测试器电连接；卸载装置，用于从测试托盘卸载完成测试的多个电子部件并使电子部件向回收用托盘移动；以及缓冲装置，具有能够在上述加载装置的工作区域与上述卸载装置的工作区域之间移动的缓冲台。而且，根据需要，缓冲装置使上述缓冲台在上述加载装置的工作区域与上述卸载装置的工作区域之间移动，从而使上述缓冲台灵活应用于借助上述加载装置进行的加载工作和借助上述卸载装置进行的卸载工作。

技术领域

本发明涉及用于测试被生产的电子部件的电特性的分选机(handler)。尤其，涉及在分选机进行的电子部件的移动技术。

背景技术

半导体元件或模块存储器等多个电子部件在生产后，经过电特性测试后发货。此时，需要使用将待测试电子部件与测试器电连接的分选机。

一般而言，分选机包括测试托盘、第一堆垛机、加载装置、连接装置、卸载装置及第二堆垛机。

测试托盘沿着经过加载位置、测试位置以及卸载位置后再连接至加载位置的循环路径而循环。

第一堆垛机用于收纳装载多个有待测试的电子部件的多个供给用托盘。通过依次将收纳于这种第一堆垛机的供给用托盘供给至供给位置，使借助加载装置的加载工作顺利进行。

加载装置用于将多个待测试的电子部件从供给用托盘加载至位于加载位置的测试托盘。

连接装置在当借助加载装置使对多个电子部件完成加载的测试托盘到达测试位置时，使装载于测试托盘的多个电子部件与测试器电连接。

卸载装置用于在测试位置完成对被装载的多个电子部件的测试后，从到达卸载位置的测试托盘卸载多个电子部件，根据测试结果进行分类并向回收用托盘移动。

第二堆垛机用于收纳对完成测试的多个电子部件进行回收的的多个回收用托盘。这种多个回收用托盘通过依次供给至回收位置，使借助卸载装置的卸载工作顺利进行。

但是，如韩国公开专利第10—2009—0063542号，完成一次测试后分类为再测试的多个电子部件，重新供给至分选机需要经过二次再测试(Retest)过程。此时，装载于回收用托盘的分类为再测试的多个电子部件由作业者手动供给至分选机。

因此，一次测试与二次再测试之间的分选机的运转被终止，这使分选机的运行率下降。

另一方面，如韩国公开专利第10—2009—0008062号等，为帮助借助加载装置的适当的加载工作，在分选机中设置缓冲台。

一般而言，缓冲台借助位于测试器的测试插座的关闭等，可临时装载在加载时有必要临时去除的电子部件。由此，加载工作变得顺利，加载速度得到提高。其中，关闭为熄灭(OUT)测试插座，对于特定测试插座是否为关闭的对象，可根据设计者的意图改变。例如，在特定测试插座出现设定次数以上的非正常判断的情况下，可设定为关闭该测试插座。而且，在具有关闭的测试插座的情况下，面对测试托盘的相应测试插座的位置上不装载电子部件，而是将待装载于该位置的电子部件集合起来，在集合到一定量时搬至测试托盘。本发明涉及这种缓冲台的灵活应用。

发明内容

要解决的技术问题

本发明的第一目的在于，提供通过灵活应用缓冲台来使加载工作、卸载工作及再测试作业顺利进行。

本发明的第二目的在于，提供通过个别识别电子部件来正确把握灵活应用缓冲台的电子部件的流程的技术。

解决问题的技术方案