[发明专利]LiNbO3 有效
申请号: | 201710103353.8 | 申请日: | 2017-02-24 |
公开(公告)号: | CN106768867B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 李建光;肖浩;刘博阳;雷军;郝琰 | 申请(专利权)人: | 北京世维通光智能科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01R35/02 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人: | 刘金峰 |
地址: | 065201 河北省廊坊市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | linbo base sub | ||
1.一种LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,包括:
偏振光输出元件,其输出端与待测LiNbO3相位调制器的输入端连接,所述待测LiNbO3相位调制器的电信号接入端输入调制信号;
保偏光纤环,其第一端与所述待测LiNbO3相位调制器的输出端连接;
敏感元件,感应通电导体内的基准电流值,与所述保偏光纤环的第二端连接;所述偏振光输出元件输出的偏振光经所述待测LiNbO3相位调制器、所述保偏光纤环、所述敏感元件后原路返回,返回后的线偏振光发生干涉;
探测器,检测干涉光强,并得到与所述干涉光强对应的电信号;
信号处理单元,接收所述探测器发送的电信号,解析后得到测量电流值;
误差计算单元,接收所述信号处理单元发送的所述测量电流值,根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测LiNbO3相位调制器在所处环境下引入的测量误差;
环境发生器,所述待测LiNbO3相位调制器置于所述环境发生器内部,所述环境发生器响应上位机的控制信号模拟所述待测LiNbO3相位调制器所处环境;
所述环境发生器模拟的所述待测LiNbO3相位调制器所处环境包括:温度、湿度、振动、冲击和辐照中的至少一种;
所述误差计算单元,获取所述基准互感器检测的通电导体中的基准电流值,根据所述基准电流值以及所述测量电流值得到所述待测LiNbO3相位调制器在所处环境下引入的测量误差;
所述误差计算单元发送所述测量误差至所述上位机。
2.根据权利要求1所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于:
所述敏感元件,包括光纤环以及分别设置于所述光纤环两端的光纤波片和反射镜,所述光纤环内有通电导体穿过,所述光纤波片与所述保偏光纤环的第二端连接。
3.根据权利要求2所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,所述待测LiNbO3相位调制器为直条型LiNbO3相位调制器时,所述偏振光输出元件包括光源、耦合器和起偏器,其中:
所述光源发出的光经所述耦合器后进入所述起偏器输入端,以产生线偏振光;
所述起偏器的输出端与所述直条型LiNbO3相位调制器的输入端采用45度对轴角进行熔接;
所述直条型LiNbO3相位调制器的输出端与所述保偏光纤环的第一端采用0度对轴角进行熔接。
4.根据权利要求2所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,所述待测LiNbO3相位调制器为Y型LiNbO3相位调制器时,所述偏振光输出元件包括光源和耦合器,且所述保偏光纤环的第一端通过偏振合束器与所述Y型LiNbO3相位调制器的输出端连接,其中:
所述光源发出的光输入至所述耦合器;
所述耦合器的输出端与所述Y型LiNbO3相位调制器的输入端采用0度对轴角进行熔接;
所述Y型LiNbO3相位调制器的一个输出端与所述偏振合束器的一个输入端采用0度对轴角进行熔接,所述Y型LiNbO3相位调制器的另一个输出端与所述偏振合束器的另一个输入端采用90度对轴角进行熔接;
所述偏振合束器的输出端与所述保偏光纤环的第一端采用0度对轴角进行熔接。
5.根据权利要求4所述的LiNbO3相位调制器性能检测系统,其特征在于,还包括:
电流发生器,输出预设电流至所述通电导体;
基准互感器,检测所述电流发生器输出预设电流的电流值,作为所述通电导体中的基准电流值。
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