[发明专利]数据存储

说明书

本公开涉及数据存储。数据存储装置包括被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测电路，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测电路包括：比较器，被配置为作为第一比较将参考存储器地址的位中的第一子集与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的位中的对应第一子集的组合进行比较；比较器被配置为作为第二比较将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；检测器，被配置为当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及控制电路，被配置为当匹配被检测器检测到时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

技术领域

本公开涉及数据存储。

背景技术

在一些数据存储布置中，存在将测试地址与参考地址进行比较的需求，该测试地址是诸如基地址和偏移地址之类的两个地址操作数的组合。例如，参考地址可以是由数据存储设备保持或缓存的数据项的地址。

对这样的布置进行改进是持续不变的目标。

发明内容

在示例布置中，提供了一种数据存储装置，包括：

检测电路，被配置为检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，该检测电路包括：

比较器，被配置为作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；比较器被配置为作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

检测器，被配置为当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

控制电路，被配置为当匹配被检测器检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

在另一示例布置中，提供了一种数据存储装置，包括：

用于检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配的检测装置，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测装置被配置为：

用于作为第一比较将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较的装置；

用于作为第二比较将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较的装置；

用于当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测的装置；以及

用于当匹配被检测到时依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作的装置。

在另一示例布置中，提供了一种数据存储操作的方法，该方法包括：

检测多位的参考存储器地址和测试地址之间的匹配，测试地址是多位的基地址和多位的地址偏移的组合，检测步骤包括：

作为第一比较，将参考存储器地址的多个位中的第一子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第一子集和地址偏移的多个位中的对应第一子集的组合进行比较；

作为第二比较，将参考存储器地址的多个位中的第二不同子集(例如，一些但不是所有的位)与基地址的多个位中的对应第二子集进行比较；

当第一比较和第二比较二者均检测到相应的匹配时对参考存储器地址与测试地址之间的匹配进行检测；以及

当匹配被检测到时，依据参考存储器地址控制数据存储装置的操作。

附图说明