[发明专利]一种开关机构及具有开关机构的低感测试设备

说明书

本发明公开了一种开关机构，包括平行正对的两个双向开关，其中，第一双向开关A1用于控制两个母排的通断，第一双向开关A1闭合时，第一双向开关A1分别接触两个母排，第一双向开关A1断开时，第一双向开关A1分别平行于两个母排；第二双向开关A2用于控制另外两个母排的通断，第二双向开关A2闭合时，第二双向开关A2分别接触另外两个母排，第二双向开关A2断开时，第二双向开关A2分别平行于另外两个母排，这样能够有效降低开关机构的寄生电感。本发明还公开了一种具有开关机构的低感测试设备，采用了四个开关机构，这样只需采用一套电流传感器，就能对上半桥集电极电流和下半桥发射极电流的采样，有效减小了测试设备体积和成本。

技术领域

本发明涉及电力电子领域，特别是涉及一种开关机构及具有开关机构的低感测试设备。

背景技术

电力电子技术在当今快速发展的工业领域占有非常重要的地位，功率半导体器件作为电力电子技术的代表，已广泛应用于电动汽车，光伏发电，风力发电，工业变频等行业。随着我国工业的崛起，功率半导体器件有着更加广阔的市场前景。

功率半导体器件的电气性能参数是应用工程师非常关注的指标，此指标会作为系统电气设计的依据，往往对设计产品的质量起着至关重要的作用。功率半导体器件的电气性能参数需要借助专业的动、静态测试机构来评价，现有技术的测试机构中的开关机构往往寄生电感较大，并且为实现对功率半导体器件的快速测试，一套测试系统内往往集成两套电流传感器，这样不仅造成测试机构体积较大，而且会造成成本增加。

发明内容

发明目的：本发明提供了一种寄生电感较小的开关机构，以及只需采用一套电流传感器，能够有效减小测试设备体积和成本的具有开关机构的低感测试设备。

技术方案：本发明所述的开关机构，包括平行正对的两个双向开关，其中，第一双向开关用于控制两个母排的通断，第一双向开关闭合时，第一双向开关分别接触两个母排，第一双向开关断开时，第一双向开关分别平行于两个母排；第二双向开关用于控制另外两个母排的通断，第二双向开关闭合时，第二双向开关分别接触另外两个母排，第二双向开关断开时，第二双向开关分别平行于另外两个母排。

进一步，所述第一双向开关和第二双向开关同时闭合或者断开，这样方便控制第一双向开关和第二双向开关的运动。

进一步，所述第一双向开关上具有第一扁平触点，第一双向开关闭合时，第一扁平触点分别接触两个母排，第一双向开关断开时，第一扁平触点分别平行于两个母排；第二双向开关上具有第二扁平触点，第二双向开关闭合时，第二扁平触点分别接触另外两个母排，第二双向开关断开时，第二扁平触点分别平行于另外两个母排。这样能够进一步降低寄生电感，从而提高测试的准确度。

进一步，所述第一双向开关包括第一气缸、第一推杆、第一绝缘辅助块和第一扁平触点，第一推杆一端连接第一气缸内部的活塞，第一推杆另一端连接第一绝缘辅助块，第一扁平触点设于第一绝缘辅助块上，第一双向开关闭合时，第一扁平触点分别接触两个母排，第一双向开关断开时，第一扁平触点分别平行于两个母排；第二双向开关包括第二气缸、第二推杆、第二绝缘辅助块和第二扁平触点，第二推杆一端连接第二气缸内部的活塞，第二推杆另一端连接第二绝缘辅助块，第二扁平触点设于第二绝缘辅助块上，第二双向开关闭合时，第二扁平触点分别接触另外两个母排，第二双向开关断开时，第二扁平触点分别平行于另外两个母排。