[发明专利]具有适中离子释放速率的碱金属离子源和形成方法在审

专利信息
申请号: 201710109079.5 申请日: 2014-05-06
公开(公告)号: CN106866207A 公开(公告)日: 2017-06-20
发明(设计)人: T·斯科里纳;A·阿拉诺尔 申请(专利权)人: 麻省理工学院
主分类号: C05G1/00 分类号: C05G1/00;C01F11/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所11256 代理人: 陈文平,黄海波
地址: 美国马*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 适中 离子 释放 速率 碱金属 离子源 形成 方法
【权利要求书】:

1.形成具有适中的离子释放速率的碱金属离子源的方法,所述方法包括以下步骤:降低颗粒状带碱性金属离子的架状硅酸盐的尺寸,直到至少约50重量%的所述颗粒具有等于或小于5μm的直径,其通过基于激光的粒度分布分析进行测量。

2.权利要求1的方法,其中所述第一组分的碱金属包括锂、钠和钾的至少一种。

3.权利要求2的方法,其中所述带碱金属离子的架状硅酸盐的碱金属包括钾。

4.权利要求3的方法,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐的硅酸盐是铝硅酸盐。

5.权利要求4的方法,其中所述颗粒状带碱金属的架状硅酸盐包括选自钾长石(KAlSi3O8)、白榴石(KAlSi2O6)、原钾霞石(KAlSiO4)和霞石(Na3KAl4Si4O16)的至少一种。

6.权利要求5的方法,其中所述颗粒状带碱金属的架状硅酸盐包括至少约5重量%的K2O当量。

7.权利要求6的方法,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐包括正长岩和花岗岩的至少一种。

8.具有适中的碱金属离子释放速率的碱金属离子源,其通过包括以下步骤的方法形成:降低颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐的尺寸,直到至少约50重量%的所述颗粒具有等于或小于5μm的直径,其通过基于激光的粒度分布分析来测量,从而形成Brunauer-Emmett-Teller(BET)比表面积为约3m2/g至约10m2/g的碱金属离子源。

9.权利要求8的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐的所述碱金属包括锂、钠和钾的至少一种。

10.权利要求9的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐的所述碱金属包括钾。

11.权利要求10的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐是铝硅酸盐。

12.权利要求11的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属的架状硅酸盐包括选自钾长石(KAlSi3O8)、白榴石(KAlSi2O6)、原钾霞石(KAlSiO4)和霞石(Na3KAl4Si4O16)的至少一种。

13.权利要求12的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐包括至少约5重量%的K2O当量。

14.权利要求8的碱金属离子源,其中所述颗粒状带碱金属离子的架状硅酸盐包括正长岩、霞石正长岩和花岗岩的至少一种。

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