[发明专利]雷达电路板电应力加速退化方法和装置

说明书

本发明涉及可靠性加速试验技术领域，公开一种雷达电路板电应力加速退化方法和装置。该方法包括：获取雷达电路板的最高电压应力水平；根据雷达电路板的最高电压应力水平和加速速率确定试验方案；根据加速试验样本数量选取原则确定试验样本数量；根据所述试验方法、试验设备和所述试验样本数量设计试验系统，并通过所述试验系统进行雷达电路板电应力加速退化试验。该方法通过选用雷达电路板进行电应力加速退化试验能够完整、有效的反映出电子产品的可靠性。

技术领域

本发明涉及可靠性加速试验技术领域，特别是涉及一种雷达电路板电应力加速退化方法和装置。

背景技术

目前，随着电子装备复杂性的提高，对在现代战场环境下装备的环境适应性、可靠性提出了更高要求，因为缺乏有效的装备现场使用数据和寿命数据，就很难对装备的可靠性做出准确的评估，这给装备的预防维修和保障带来了挑战，而通过环境应力加速试验来获取装备的失效数据和退化数据，结合现场数据，扩大数据量，可有效提高可靠性评估的准确度。因此，开展有效的加速性能退化试验是目前提高装备保障技术的重要措施和突破。

当前电子装备的失效一定程度上是由环境效应引起的，引起电子装备失效的主要环境因素有：温度、湿度、沙尘、盐雾、强电磁脉冲静电放电等，另外，工作应力的不稳定也是导致产品失效的另一主要原因，电子装备工作时主要受电源通断电、电压、电流、功率等因素的影响，容易造成电子元器件的性能损伤。而传统的电子元器件级电应力试验针对的电子元器件并不能完整、准确的反映出电子产品的可靠性。

发明内容

本发明要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种雷达电路板电应力加速退化方法和装置，能够完整、准确的反映出电子产品的可靠性。

为解决上述技术问题，本发明所采取的技术方案是：

一种雷达电路板电应力加速退化方法，包括：

获取雷达电路板的最高电压应力水平；

根据雷达电路板的最高电压应力水平和加速速率，确定试验方案；

根据加速试验样本数量选取原则确定试验样本数量；

根据所述试验方法、试验设备和所述试验样本数量设计试验系统，并通过所述试验系统进行雷达电路板电应力加速退化试验。

优选的，所述获取雷达电路板的最高电压应力水平包括：

基于雷达电路板各元器件的性能指标和电路功能结构，确定雷达电路板的理论最高电压应力水平；

按照步进应力试验的方法确定雷达电路板工作时的实际最高电压应力水平。

优选的，所述根据雷达电路板的最高电压应力水平和加速速率，确定试验方案包括：

根据失效机理不变原则，结合雷达电路板的最高电压应力水平和加速速率，确定雷达电路板加速电应力的试验最低应力水平和试验最高应力水平；

通过组合优化方法确定试验的应力组数及每组应力下的应力水平大小。

优选的，所述根据加速试验样本数量选取原则确定试验样本数量具体为：

根据加速试验样本数量选取原则，确定恒定应力加速退化试验的样本量大小不少于5个，步进应力加速退化试验的样本量大小不少12个。

优选的，所述根据所述试验方法和所述试验样本数量设计试验系统具体为：

根据所述试验方法和所述试验样本数量，选取直流电源、功率开关、控制装置和波形采集装置进行雷达电路板电应力加速退化试验。

优选的，所述选取直流电源、功率开关、控制装置和波形采集装置进行雷达电路板电应力加速退化试验具体为：