[发明专利]用于表征光子器件的方法及相关联设备

说明书

方法包括：接收光学输入信号(2)；根据具有已知实值的分离系数(K)将来自该输入信号的中间信号分离成至少一个第一子信号(21)和第二子信号(22)；将所述至少一个第一子信号(21)递送到至少一个第一光子电路(C1)，该至少一个第一光子电路包含待表征的该至少一个光子器件(4)、以及第一光子部分(50)；将所述第二子信号(22)递送到第二光子电路(C2)，所述第二光子电路包含具有与所述第一光子部分相同传递函数的第二光子部分并且没有所述至少一个光子器件(4)；将来自所述电路的输出信号转换成电信号；根据所述电信号并且根据该分离系数(K)的该已知实值来确定所述至少一个光子器件的损耗。

技术领域

本发明的不同实施例及其实现方式涉及光子器件，以及尤其是允许表征光子器件以便例如确定其引发的光学损耗的测试电路。

背景技术

存在用于表征光子器件的装置，其中，两个完全相同的光学信号耦合至两个不同的光子电路的输入端，并且对来自这两个电路的光学输出信号进行对比。

然而，将例如光纤的光学信号从/向光子电路耦合可能是显著不确定性的来源。的确，光学信号的由于网络耦合器所导致的损耗非常依赖于光纤相对于耦合器的对准和倾角。

因此，难以在有待进行对比的这两个电路之间获得完全相同的输入和输出耦合，这使得难以表征光子器件。

发明内容

根据一个实施例，提供了一种用于表征光子器件的方法，该方法独立于光学输入信号的特性。

根据一个方面，提供了一种用于表征至少一个光子器件的方法，该方法包括

-接收光学输入信号，

-根据具有已知实值的分离系数将来自该输入信号的中间信号分离成至少一个第一子信号和第二子信号，

-将所述至少一个第一子信号递送到至少一个第一光子电路，该至少一个第一光子电路包含所述至少一个光子器件以及第一光子部分，

-将该第二子信号递送到第二光子电路，该第二光子电路包含具有与该第一光子部分相同传递函数的第二光子部分并且没有所述至少一个光子器件，

-将来自该电路的输出信号转换成电信号，

-根据所述电信号并且根据该分离系数的该已知实值来确定所述至少一个光子器件的光学损耗。

换言之，使用了单个光学输入信号，该单个光学输入信号允许避免实现若干光耦合，这允许一方面增益及时另一方面测量更加精确。

该中间信号可以是来自接收输入信号的光耦合器的信号或者是已经经受一次或多次光学分离的光信号，这允许对分离系数进行精确确定。

在此方面，根据一个实施例，对该中间信号的所述分离是在具有所述分离系数的分离器中执行的，该分离系数的实值等于至给定精度的已知理论值，该方法还包括

-经由第二分离器将来自该输入信号的第一信号第一次分离成第三子信号和第四子信号，

-经由第三分离器将该第四子信号第二次分离成第五子信号以及形成所述中间信号的第六子信号，该第一次和第二次分离是通过所述分离系数来施加的，

-将该第三和第五子信号转换成电信号，以及

-根据来自该第三和第五子信号的所述电信号确定该分离系数的所述实值。

换言之，在以完全相同的方式(换言之，在具有相同的分离系数的连续分离器中)执行分离的情况下，可以使用来自这两个分离器的输出信号的功率来精确地确定分离系数。

该方法还可以包括

-将该中间信号分离成若干子信号，

-将这些子信号中的一个信号传递至该第二电路，