[发明专利]一种近场测试系统在审
| 申请号： | 201710112690.3 | 申请日： | 2017-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN106896276A | 公开（公告）日： | 2017-06-27 |
| 发明（设计）人： | 胡罗林;杨伟;张华彬;郭天鹏;林鹏 | 申请（专利权）人： | 成都菲斯洛克电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙)51223 | 代理人： | 徐丰 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 近场 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种近场测试系统，其特征在于，包括：移相衰减网络、工控计算机以及供电系统；
所述移相衰减网络由多个移相衰减模块并联组成，每个移相衰减模块由多个移相模块和衰减模块并联组成，其中移相模块的数量与衰减模块的数量保持一致；
所述移相衰减网络输入端连接前置开关，开关两端分别为外部无线输入端和校准信号输入端，所述校准信号输入端连接在同一个开关矩阵上；输出端通输出合成输出信号，并通过开关其发射输出状态和校准状态，并通过后置开关分路，其一路为发射输出，另一路连接前置开关矩阵，作为校准信号的输入。
2.根据权利要求1所述的一种近场测试系统，其特征在于：所述移相模块采用数字开关型移相器，移相功能采用开关线移相器方式来实现固定相位1.4°、2.8°、5.6°、11.2°、22.5°、45°、90°、180°和360°，再通过移相单元组合叠加来实现相位从0°到360°的变化。
3.根据权利要求1所述的一种近场测试系统，其特征在于：所述衰减模块采用微波衰减芯片HMC539LP3和HMC472LP3来实现固定衰减量0.125dB、0.25dB、0.5dB、1dB、2dB、4dB、8dB、16dB和32dB，再通过衰减芯片组合叠加实现衰减量从0dB~50dB的变化。
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