[发明专利]一种液晶显示面板在审
申请号: | 201710113270.7 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN106646953A | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | 侯鹏飞 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司11372 | 代理人: | 吴大建 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 液晶显示 面板 | ||
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域,尤其涉及一种液晶显示面板。
背景技术
随着液晶显示技术的发展,用户对液晶显示产品的要求呈现多元化,例如采用低温多晶硅工艺(Low Temperature P-Si,LTPS)制作的FFS(Fringe Field Switching)小尺寸液晶显示器,由于其主要应用于手持的移动设备中,因此在产品技术开发时,一般需求窄边框以实现更好的用户体验。
窄边框技术所面临的主要问题是区域的透光率问题。边框区域需要满足透光率要求,因为在对基板进行贴合的时候,利用紫外线从基板一侧照射框胶材料进行框胶的硬化,如果边框区域的透光率较低,则对于框胶材料的粘附性以及窄胶宽和固化能力都存在比较大的考验。而现有液晶显示器的边框区域除集成有繁复的驱动线路外,还设置有用于连接测试设备(例如阵列测试机ATS)的测试垫结构,这些结构均会降低边框区域的透光率。
图1为现有技术中一测试垫的结构示意图,测试垫结构主要用于将从ATS接收到的测试信号传输至阵列基板显示区域内的薄膜晶体管阵列,其用于传输测试信号的走线主要由金属形成(如图1中的12所示)。而金属是一种不透光材料,因此大量的测试垫结构将导致边缘电路在设计上没有足够的透光率。但若取消ATS测试设计,即无法实现对产线的监控拦检作用,公司则如同闭门造车,无法及时确认TFT制程状况,造成的成本损失不可估量。
发明内容
本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种测试垫结构以增加液晶显示面板边框区域的透光率。
为了解决上述技术问题,本申请的实施例首先提供了一种液晶显示面板,其包括的阵列基板被划分为显示区域和非显示区域,在所述非显示区域内设置有用于连接测试设备的多个测试垫,所述测试垫包括:表面接触层,用于接收所述测试设备输出的测试信号;信号传递层,用于将所述测试信号传输至所述显示区域;所述信号传递层由金属形成,且被划分成镂空区域和非镂空区域;保护层,设置于所述表面接触层与所述信号传递层之间,所述保护层具有过孔,所述过孔用于使所述表面接触层与所述信号传递层的非镂空区域相连通,以使所述测试信号被传输给所述信号传递层。
优选地,所述信号传递层的镂空区域的面积与所述测试垫占据所述非显示区域的面积的比值大于25%。
优选地,所述信号传递层的非镂空区域对应所述测试垫的中心区域设置;所述过孔的数量为1,并且所述过孔对应所述测试垫的中心区域设置。
优选地,所述非镂空区域由所述信号传递层包括的多个分立的区块形成;所述过孔的数量等于所述区块的数量,且所述过孔与所述区块一一对应。
优选地,所述区块的数量小于或等于4。
优选地,所述信号传递层的金属形成网格状结构;在与所述网格状结构中的非镂空网格相对应的位置处设置有多个过孔。
优选地,所述网格状结构中的非镂空网格的行数/列数小于或等于5。
优选地,所述表面接触层与所述阵列基板的透明电极层同层设置。
优选地,所述信号传递层与所述阵列基板的第二金属层同层设置。
与现有技术相比,上述方案中的一个或多个实施例可以具有如下优点或有益效果:
通过改变信号传递层的面积形态,进而变更测试垫的结构,在满足阵列测试机扎针讯号顺利从测试垫的表面接触层传输至信号传递层的同时,提升边框区域的边缘透光率,以不影响后段液晶盒成盒工艺制程的框胶的固化。
本发明的其他优点、目标,和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述,并且在某种程度上,基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的,或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书,权利要求书,以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本申请的技术方案或现有技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分。其中,表达本申请实施例的附图与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案,但并不构成对本申请技术方案的限制。
图1为现有技术中的测试垫结构的示意图;
图2为根据第一实施例的测试垫结构的示意图;
图3为根据第二实施例的测试垫结构的示意图;
图4为根据第三实施例的测试垫结构的示意图。
具体实施方式
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