[发明专利]评估彩膜基板中色阻单体信赖性的方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板的制造领域，尤其涉及一种评估彩膜基板中色阻单体信赖性的方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示装置(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。通常液晶显示面板由彩膜(CF，Color Filter)基板、TFT阵列基板、夹于彩膜基板与TFT阵列基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封框胶(Sealant)组成；其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程与CF制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT阵列基板与CF基板贴合)及后段模组组装(Module)制程(驱动IC与印刷电路板压合)；其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；前段CF制程主要是形成CF基板；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

CF基板是LCD用来实现彩色显示的主要器件，其基本构成通常包括：玻璃基板、黑色矩阵(Black Matrix，BM)、彩色色阻层等等。背光源发出的光经过液晶分子的调制入射到CF基板，通过CF基板上彩色色阻层的红色(R)色阻、绿色(G)色阻、以及蓝色(B)色阻的滤光作用，分别显示红、绿、蓝三种光线，不同颜色的色阻分别透射对应颜色波段的光，从而实现显示器的彩色显示。制程上在玻璃基板上通过涂布、曝光、显影、烘烤工艺得到设计的R、G、B、BM光阻图案。而这些光阻图案在后制程中可能会接触各种化学溶剂，因此需评估CF基板上彩色色阻层中各色阻单体抗溶剂的信赖性。目前大多实验室采用N-甲基吡咯烷酮(NMP)浸泡彩色色阻层中的色阻单体，然后测量浸泡前后各色阻单体的色差⊿Eab来评估彩色色阻层中色阻单体的信赖性。但此法存在一些缺点，一是需购买昂贵的多频分光量度计；二是在样品处理过程后需高温烘烤去除色阻片上附着的NMP，可能会引起测量不准确；三是样品处理过程长，前后需要测量两次，耗时耗力。

因此，设计一种评估CF基板中色阻单体信赖性的方法，能够简单高效准确的评估色阻单体的信赖性，从而筛选出优质的色阻材料，减少因色阻材料抗溶剂性低而导致的损失显得非常必要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种评估彩膜基板中色阻单体信赖性的方法，能够简单高效准确的评估色阻单体的信赖性，从而有利于在材料评估阶段筛选出优质的色阻材料，减少因色阻材料抗溶剂性低而导致的损失。

为实现上述发明目的，本发明提供一种评估彩膜基板中色阻单体信赖性的方法，包括如下步骤：

步骤1、获取色阻单体样品，将色阻单体样品放入N-甲基吡咯烷酮中浸泡，得到测试样品液；

步骤2、使用紫外-可见吸光光度计测量测试样品液的吸光度，通过测量的测试样品液的吸光度，来评估当前色阻单体样品所对应的色阻单体的抗溶剂信赖性。

所述步骤1具体包括如下步骤：

步骤11、在超声波震荡仪中放入烧杯，并向烧杯中加入N-甲基吡咯烷酮，启动超声波震荡仪按一设定温度加热烧杯内的N-甲基吡咯烷酮，使热烧杯内的N-甲基吡咯烷酮温度到达设定温度；

步骤12、对彩膜基板进行切割，获取色阻单体样品，将色阻单体样品置于烧杯中；

步骤13、启动超声波震荡仪对烧杯进行超声波震荡，使色阻单体样品中的成分在加热和超声波环境下溶出到N-甲基吡咯烷酮中；

步骤14、从超声波震荡仪中取出烧杯，使烧杯中的N-甲基吡咯烷酮降温至室温，得到测试样品液。

所述步骤2具体包括如下步骤：

步骤21、启动紫外-可见吸光光度计，对应当前的色阻单体样品选定一波长将紫外-可见吸光光度计设定在单波长吸光度采集模式；

步骤22、吸取测试样品液至比色皿中，以N-甲基吡咯烷酮为参比对照品，测量测试样品液在选定波长下的吸光度；

步骤23、以所得到的吸光度大小为指标评估当前色阻单体样品所对应的色阻单体的抗溶剂信赖性。

所述步骤11中，所述设定温度为60-80℃。

所述步骤12中，所获取的色阻单体样品的尺寸长度及尺寸宽度均为4-10cm。

所述步骤13中，超声波震荡仪对烧杯进行超声波震荡的时间为20-30min。