[发明专利]电阻器筛选工艺方法

权利要求书

1.一种电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器筛选工艺方法包括：

在预设定的第一温度范围下，利用充满惰性气体的烘箱对电阻器进行烘烤预设定的第一时间；测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；

若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品；

所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：

若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并分别维持预设定的第二时间；

再次测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内；

若电阻器的电阻不在预设定的电阻值范围内时，将该电阻器确定为不良品；所述电阻器包括有电极层，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：

若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，循环的将电阻器处于不同的温度环境，并分别维持预设定的第二时间；

识别所述电极层的外观是否发生变化；

若所述电极层的外观发生变化时，将该电阻器确定为不良品。

2.根据权利要求1所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述不同的温度环境包括有第二测试温度及第三测试温度，所述第二测试温度的温度范围为110度~150度，所述第三测试温度的温度范围为-50度~-80度。

3.根据权利要求2所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述第二测试温度为125度，所述第三测试温度为-65度。

4.根据权利要求1所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述预设定的第一温度范围为140度~160度，预设定的第一时间为96h~104h。

5.根据权利要求4所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述第一温度为150度，所述预设定的第一时间为100h。

6.根据权利要求1所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器包括有电极层，所述测量电阻器的电阻是否在预设定的范围内的步骤之后，所述电阻器筛选工艺方法还包括：

若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，识别所述电极层的外观是否变化；

若所述电极层的外观发生变化时，将该电阻器确定为不良品。

7.根据权利要求1所述的电阻器筛选工艺方法，其特征在于，所述电阻器包括有镀镍层，在所述测量电阻器的电阻是否在预设定的电阻值范围内的步骤之后，所述方法还包括：

若电阻器的电阻在预设定的电阻值范围内时，利用磁体对所述电阻器进行吸附，若所述电阻器相对所述磁体发生脱落时，将该电阻器确定为不良品。