[发明专利]一种电感式位移传感器的干扰消除方法

权利要求书

1.一种电感式位移传感器的干扰消除方法，其特征在于，在降低维度优化的IPS查表算法基础上新增若干采样点，作为干扰校验点；通过分析干扰校验点的分布范围和一致性，检测系统采样数据是否由于干扰而出现差错；包括如下步骤：

1)新增t₂时刻干扰校验点：

t₂时刻时为放电电压接近终点电压的时刻；在t₂时刻附近新增若干采样点，用于筛查该采样的可靠性，并用于建立干扰校验点查找表；

2)新增t₁时刻干扰校验点：

t₁时刻为放电电压变化过程中的时刻；在t₁时刻附近新增若干采样点，用于筛查该采样的可靠性，并用于建立干扰校验点查找表；

3)计算干扰校验点查找表：

通过标定，一次性生成所有与t₁时刻干扰校验点相对应的高低温查找曲线；通过计算得到相应的算子查找表，写入IPS内；

4)计算冗余接近距离：

IPS工作状态中，驱动线圈放电，控制ADC在所有干扰校验点时刻采样；将t₁时刻干扰校验点上的采样值和符合筛选条件的t₂时刻采样值作为输入，结合IPS内部存储的算子查找表计算得到临时查找表；将t₁时刻干扰校验点的采样值与和相对应的临时查找表进行查找和计算，得到冗余接近距离；通过判断上述冗余接近距离是否满足一致性条件，决定是否将本次测量周期认为是干扰异常周期并从输出结果中剔除；

5)干扰校验点的频率优化：

结合工程现场的干扰频率，有针对性地调整干扰校验点的采样时间；能够增强系统对特定频率干扰的检出概率，从而完善系统抗干扰的频率覆盖范围。

2.如权利要求1所述的一种电感式位移传感器的干扰消除方法，其特征在于，步骤1)中，在IPS线圈放电电压接近终点电压的时刻，新增若干采样点，用于筛查采样的可靠性，并用于建立干扰校验点查找表，具体方法如下：

在IPS线圈放电接近终点电压时，新增多个采样点连同原t₂时刻重新命名为t_2a、t_2b、t_2c、……时刻；

对每个放电波形分别在t_2a、t_2b、t_2c、……时刻进行采样，获得采样值分别为U_2a、U_2b、U_2c、……；如果不能同时满足式(1)的所有条件，即认为本次放电波形受到外部干扰而需要剔除，不更新输出结果；式(1)的前一部分条件约束了U_2a、U_2b、U_2c、……都符合工程定义范围；其中r_min和r_max是IPS线圈电阻分量在最低工作温度和最高工作温度下的最小值和最大值；n是ADC的采样位数；式(1)的后一部分条件约束了U_2a、U_2b、U_2c、……的非一致性不能超过系统最小分辨率所对应的ADC的最小量化误差；其中a是系统最小分辨率所对应的ADC的最小量化误差；

其中，R为限流条件；U_2a、U_2b、U_2c、……同时满足式(1)是认为是可用采样点，取其中间值记为U₂，用于后续计算。