[发明专利]一种镭雕缺陷视觉检测系统及方法有效
申请号: | 201710115767.2 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN107014818B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 曾庆好;马亮;张伟;童强;谢晓军 | 申请(专利权)人: | 深圳市维图视技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 高占元 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 缺陷 视觉 检测 系统 方法 | ||
1.一种镭雕缺陷视觉检测方法,采用镭雕缺陷视觉检测系统实现,所述镭雕缺陷视觉检测系统包括:
图像采集装置,用于采集镭雕产品图像;
检测底座,用于承托所述镭雕产品,所述检测底座位于所述图像采集装置下方;
安装在所述检测底座上的光电传感器,用于检测所述镭雕产品是否到位;
机械手,用于按照预设程序抓取所述镭雕产品至预设位置;
伺服电机,用于控制所述机械手,固定连接于所述机械手;
电机驱动器,用于驱动所述伺服电机带动所述机械手运动,电性连接于所述伺服电机;
工控机,分别连接于所述图像采集装置、所述光电传感器及所述电机驱动器;所述工控机包括:千兆网接口,连接至所述图像采集装置以传输所述镭雕产品的图像数据;I/O控制接口,连接至所述光电传感器;RS232接口,连接至所述电机驱动器;VGA接口,连接至预设的显示器;数字光源控制接口,连接至LED光源;
LED光源,用于为所述镭雕产品补光,设置于所述图像采集装置及所述检测底座之间,电性连接于所述工控机;
竖直支架;
第一水平支架,所述第一水平支架的一端固定连接于所述竖直支架,另一端固定连接于所述LED光源;
第二水平支架,所述第二水平支架的一端固定连接于所述竖直支架,另一端固定连接于所述图像采集装置;所述图像采集装置包括:工业相机,所述工业相机的侧面开设有开口,所述第二水平支架穿设于所述开口以固定所述工业相机,所述工业相机电性连接于所述工控机;工业镜头,设置于所述工业相机的下表面以对准所述镭雕产品;其特征在于,包括:
藉由所述图像采集装置采集镭雕产品的图像,并将所述图像传送至所述工控机;
藉由所述工控机将所述图像转换为灰度图,并通过最小包络矩形提取算法获取所述镭雕产品的位置信息,并计算所述位置信息与预设的标准镭雕产品的偏差;该步骤包括:藉由所述工控机将所述图像转换为灰度图,通过阈值将所述灰度图分割得到若干个连通区域;依据若干个所述连通区域全局定位所述镭雕产品的全局位置信息,并局部定位所述镭雕产品的局部位置信息;计算所述全局位置信息与标准镭雕产品的全局位置的全局偏移量,并依据所述全局偏移量计算所述局部位置信息与标准镭雕产品的局部位置的局部偏移量;
依据所述偏差判断所述镭雕产品的镭雕图案是否存在缺陷,和/或判断所述镭雕产品的镭雕图案是否存在重影;该步骤包括:判断所述全局偏移量对应的图像区域的像素值是否处于预设的第一阈值范围,若是,则判断所述镭雕产品的镭雕图案存在缺陷,若否,则判断所述镭雕产品的镭雕图案不存在缺陷;和/或判断所述局部偏移量对应的图像区域的边缘图像的像素值是否处于预设的第二阈值范围,若是,则判断所述镭雕产品的镭雕图案存在重影,若否,则判断所述镭雕产品的镭雕图案不存在重影;对所述全局偏移量及所述局部偏移量进行图像腐蚀处理及二值化处理以计算所述镭雕图案的像素值;
控制所述机械手将镭雕图案存在缺陷的镭雕产品抓取至第一位置,将镭雕图案存在重影的镭雕产品抓取至第二位置。
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