[发明专利]一种门电路实验装置

说明书

本发明涉及一种门电路实验装置，包括外壳、芯片切换装置、芯片报警装置、传动装置；所述外壳为空心矩形壳体；所述芯片切换装置包括蜗杆、蜗轮、随动滑块、升降筒、基准座、升降弹簧；所述芯片报警装置包括安装通孔、门电路芯片、上挡头、滑动杆、动作弹簧、报警器、触压开关；所述传动装置包括主动转轴、传送带、张紧装置；本发明的门电路芯片隐藏在外壳内，并且设有报警装置避免学生拆卸翻看门电路芯片；可以通过转动外壳外的主动手柄或从动手柄来切换不同芯片，老师在实验课开始前预先切换完毕可以使学生不知道此时是哪一块门电路芯片正处在工作位置，学生只能从头实验，实验完毕后学生可以自己切换芯片对下一门电路芯片进行实验。

技术领域

本发明涉及实验器材技术领域，具体涉及一种门电路实验装置。

背景技术

数字电子技术课程实验中，传统的门电路逻辑功能测试实验的设计是给出芯片的型号和实验电路图，学生只需要按照电路图在实验板上连接电路图，按照给出的表格中的输入的逻辑电平状态，测试输出逻辑电平状态，通过测试输入和输出的关系与对应芯片功能相结合来验证门电路的逻辑功能，以加深理论知识的理解和掌握。

但是教学中发现存在以下问题：一、由于芯片型号显露在外，学生实验之前已经知晓芯片的型号，其思路被拘限在“实验结果是否与正确结果相同”上，而并非完全独立的探究“实验结果应该是怎样”，先入为主的进行实验，效果差强人意；二、由于实验课时比较紧张，学生有时候并不能将所有门电路芯片全部实验完毕，学生又喜欢从自己较为有把握的一种门电路芯片开始操作，比如学生对“与”门较为熟悉，就会挑选“与”门芯片进行实验，而导致其他的门电路芯片没有时间完成，实验效果大打折扣。

发明内容

为了解决背景技术中存在的技术问题，本发明提供一种门电路实验装置，其门电路芯片隐藏在外壳内，并且还设有报警装置避免学生拆卸翻看门电路芯片；老师在实验课开始前预先将门电路芯片切换完毕，使学生不知道此时是哪一块门电路芯片正处在工作位置，学生只能从头实验，实验完毕后学生可以自己切换芯片对下一门电路芯片进行实验。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种门电路实验装置，包括外壳、芯片切换装置、芯片报警装置、传动装置；

所述外壳为空心矩形壳体，所述外壳右侧壁由上而下设有竖直滑孔，所述外壳上端面右侧设有两行上下贯通的触头，每只触头分别电连接有插孔，所述外壳上端面可拆卸连接；

所述芯片切换装置包括：

蜗杆，沿前后方向可转动的设在外壳内腔右方，所述蜗杆后端成型有从动辊轮，所述蜗杆后端穿出所述外壳并成形有从动手柄；

蜗轮，通过纵轴可转动的设在所述外壳内腔，与所述蜗杆传动连接，其外沿上、下端面分别成型有一圈环形凹槽；

随动滑块，用以拘限所述蜗杆并且随所述蜗轮上下滑动，所述随动滑块插设在所述竖直滑孔内，其左侧设有用以容设所述蜗杆的弧形凹槽，其上、下两端分别设有与环形凹槽插接配合的限位板；

升降筒，用以带动所述蜗轮升降，所述升降筒成型于所述蜗轮下方且可转动的套设在纵轴上，其外壁周向设置有一圈升降滑道，所述升降滑道沿所述升降筒圆周侧面以波纹状轨迹行走一周，所述升降滑道的波谷处设有向下凹陷的弧形定位槽；

基准座，用以拘限所述升降筒位置，所述基准座设在所述外壳内腔底面的右侧，所述基准座包括基准座本体、沿水平方向插设在所述基准座本体内的基准芯杆、设在所述基准座本体上用以固定所述基准芯杆的定位螺栓，所述基准芯杆与升降滑道插接配合；

升降弹簧，用以抬升所述升降筒，套设在所述纵轴上位于所述升降筒下方处；

所述芯片报警装置包括：

安装通孔，周向均布在所述蜗轮上，与所述弧形定位槽一一对应，其由上而下依次包括上安装槽、弹簧孔、滑动孔、下安装槽；