[发明专利]工件测量系统和方法

权利要求书

1.一种工件测量系统，其特征在于，包括激光位移传感器、运动机构、控制器以及上位机系统，其中：

所述运动机构在所述控制器的控制下驱动所述激光位移传感器运动；

所述激光位移传感器用于在所述控制器的控制下进行测量，并将获得的测量数据发送给所述上位机系统；

所述控制器用于接收输入的指令，根据所述指令确定工件上需要测量的位置，并且，所述控制器还用于根据所述位置，控制所述运动机构带动所述激光位移传感器运动，并控制所述激光位移传感器对所述工件的所述位置进行测量；

所述上位机系统用于确定与预先选择的测量项目相对应的数据处理规则，并利用确定的所述数据处理规则对所述激光位移传感器采集的所述测量数据进行处理，得到测量结果。

2.根据权利要求1所述的工件测量系统，其特征在于，所述上位机系统中预先配置有多种测量项目、以及每种测量项目所对应的数据处理规则。

3.根据权利要求1所述的工件测量系统，其特征在于，所述上位机系统还用于对所述测量结果进行记录和统计，并根据测量结果生成图表。

4.根据权利要求1所述的工件测量系统，其特征在于，在得到所述测量结果后，所述上位机系统还用于根据预先得到的校准结果对所述测量结果进行补偿。

5.根据权利要求1所述的工件测量系统，其特征在于，所述运动机构为直线模组，所述运动机构包括伺服电机、导轨和滑块，所述激光位移传感器安装在所述滑块上，所述滑块安装于导轨并在所述伺服电机的驱动下沿着所述导轨进行运动。

6.根据权利要求1所述的工件测量系统，其特征在于，所述控制器为可编程逻辑控制器PLC。

7.一种工件测量方法，其特征在于，包括：

控制器接收输入的指令，根据所述指令确定工件上需要测量的位置；

所述控制器根据所述位置，控制运动机构带动激光位移传感器运动，并控制所述激光位移传感器对所述工件的所述位置进行测量；

所述激光位移传感器在所述控制器的控制下进行测量，并将获得的测量数据发送给所述上位机系统；

所述上位机系统确定与预先选择的测量项目相对应的数据处理规则，并利用确定的所述数据处理规则对所述激光位移传感器采集的所述测量数据进行处理，得到测量结果。

8.根据权利要求7所述的工件测量方法，其特征在于，所述上位机系统中预先配置有多种测量项目、以及每种测量项目所对应的数据处理规则。

9.根据权利要求7所述的工件测量方法，其特征在于，进一步包括：

所述上位机系统对所述测量结果进行记录和统计，并根据测量结果生成图表。

10.根据权利要求7所述的工件测量方法，其特征在于，在得到所述测量结果后，所述上位机系统根据预先的校准结果对所述测量结果进行补偿。