[发明专利]存储器装置及其压力测试方法有效

专利信息
申请号: 201710119680.2 申请日: 2017-03-02
公开(公告)号: CN107633857B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 陈毓明;洪希贤 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10;G11C7/18;G11C8/14;G11C29/56
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 存储器 装置 及其 压力 测试 方法
【说明书】:

发明涉及一种包含存储器单元阵列和控制单元的存储器装置及其压力测试方法。所述存储器单元阵列包含:按行和列配置的多个存储器单元;在行方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应行的多个字线;以及在列方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应列的多个局部位线。所述控制单元经配置以进行:编程存储器单元的所述行中的所选行以具有数字状态的预定模式,基于所述预定模式将所述局部位线中的所选局部位线耦合到全局位线且将所述局部位线中的非选局部位线耦合到接地,将压力电压施加到所述全局位线,且在预定时间段之后感测存储器单元的所述所选行的数字状态。

技术领域

本发明涉及一种存储器装置和所述存储器装置的一种压力测试方法。

背景技术

存储器装置通常用于存储电子装置的可执行代码和数据。许多电子装置长时间操作,且持续向与其相关联的存储器装置传送大量数据且从与其相关联的存储器装置传送出大量数据。此类连续操作可能降低存储器装置的性能。因此,存储器装置被压力测试以确定其是否将根据设计预期而执行以处理应付运行时操作的压力。

发明内容

根据本发明的实施例,存储器装置包含存储器单元阵列和控制单元。所述存储器单元阵列包含:按行和列配置的多个存储器单元;在行方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应行的多个字线;以及在列方向上延伸且耦合到所述存储器单元的相应列的多个局部位线。所述控制单元经配置以进行:编程存储器单元的所述行中的所选行以具有数字状态的预定模式(predetermined pattern),基于所述预定模式将所述局部位线中的所选局部位线耦合到全局位线且将所述局部位线中的非选局部位线耦合到接地,将压力电压施加到所述全局位线,且在预定时间之后感测存储器单元的所述所选行的数字状态。

根据本发明的另一实施例,存储器装置的压力测试方法包含提供存储器单元阵列,所述存储器单元阵列包含按行和列配置的多个存储器单元、在行方向上延伸且耦合到存储器单元的相应行的多个字线和在列方向上延伸且耦合到存储器单元的相应列的多个局部位线。所述压力测试方法还包含:编程存储器单元的所述行中的所选行以具有数字状态的预定模式,基于所述预定模式将所述局部位线中的所选局部位线耦合到全局位线且将所述局部位线中的非选局部位线耦合到接地,将压力电压施加到所述全局位线,以及在预定时间之后感测存储器单元的所述所选行的数字状态。

并入本发明中且构成本发明的一部分的附图说明所揭示实施例,且连同描述用以解释所揭示实施例。

附图说明

图1为根据所说明实施例的存储器装置的示意图;

图2为根据所说明实施例的存储器装置的存储器阵列和列解码器的电路图;

图3为根据所说明实施例的对存储器装置执行压力测试的过程的流程图;

图4为根据所说明实施例的在压力测试期间存储器装置的电路图;

图5为根据所说明实施例的在压力测试期间在两个相邻局部位线之间发生短路时存储器装置的电路图。

附图标记说明:

100、200:存储器装置

110、210:存储器阵列

120、220:列解码器

130:感测放大器

140:行解码器

150:控制单元

152:处理器

154:存储单元

156:电压产生器

210a:第一存储器阵列部分

210b:第二存储器阵列部分

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