[发明专利]利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO2含量的方法

说明书

技术领域

本发明属于X射线荧光光谱分析领域，具体而言，本发明涉及利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法。

背景技术

钛白粉具有稳定的物理、化学性质，优良的光学、电学性质以及优异的颜料性能，因此广泛应用于涂料、纸张、油墨、塑料、橡胶等领域。为了提高钛白粉的耐候性、化学稳定性以及分散性等性能指标，一般要对钛白粉进行表面包膜处理。在包膜过程中会引入包膜剂以及微量杂质元素，因此钛白粉中TiO₂含量并不是100％。目前，通常使用化学滴定法即金属还原法测定钛白粉中TiO₂的含量，其方法操作复杂，比较耗时，试剂消耗太大，进而考虑用X射线荧光光谱分析钛白粉中各杂质元素以及包膜剂的含量来反推TiO₂的含量，即用100wt％减去各杂质元素以及包膜剂的含量，即为TiO₂的含量。该方法的缺陷是对钛白粉中其他存在形式的杂质元素或同一金属元素的化学结构无法得知，分析结果比化学滴定法偏高或偏低，不适用于钛白粉中TiO₂含量的测定。

因此，现有利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的技术有待进一步改进。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的一个目的在于提出一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法。该方法可使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂的含量的操作过程更加简单易行。

在本发明的一个发明，本发明提出了一种利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法。根据本发明的实施例，所述方法包括：

(1)提供钛白粉标准样品；

(2)采用化学滴定法和X射线荧光光谱法分别测试所述钛白粉标准样品中二氧化钛及包膜物和杂质元素的含量，并且基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据建立X射线荧光光谱法标准曲线；

(3)采用X射线荧光光谱法，并且基于所述X射线荧光光谱法标准曲线测定钛白粉待测样品中二氧化钛含量。

根据本发明实施例的利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法，通过选定钛白粉标准样品，并将X射线荧光光谱法所测得的钛白粉标准样品中二氧化钛的含量与化学滴定法测得的相同样品的钛白粉标准样品中二氧化钛的含量进行比较，以此来修订X射线荧光光谱法测量钛白粉标准样品中二氧化钛含量的测量条件和参数，从而使得利用X射线荧光光谱分析钛白粉待测样品中TiO₂的含量所得的测量数值与化学滴定法测得的数值的误差在0.4％以内，进而得到一种与化学滴定法相比操作过程简单易行、与现有用X射线荧光光谱分析钛白粉中各杂质元素以及包膜剂的含量来反推TiO₂的含量的方法更精确且更简便的方法。

另外，根据本发明上述实施例的利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法，还可以具有如下附加的技术特征：

在本发明的一些实施例中，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品的数量不少于15个。由此，有利于得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。

在本发明的一些实施例中，在步骤(1)中，所述钛白粉标准样品是采用下列步骤制备的：将原始钛白粉标准样品与粘结剂进行混合研磨，然后进行保压压片，以便得到所述钛白粉标准样品。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。

在本发明的一些实施例中，在步骤(1)中，所述原始钛白粉标准样品中二氧化钛的含量为87wt％～98wt％。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。

在本发明的一些实施例中，在步骤(2)中，基于所述化学滴定法和所述X射线荧光光谱法所得数据的误差，对所述X射线荧光光谱法所得数据曲线进行修正，得到所述X射线荧光光谱法标准曲线。由此，可进一步得到与化学滴定法误差更小的标准曲线。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本发明一个实施例利用X射线荧光光谱分析钛白粉中TiO₂含量的方法流程示意图。