[发明专利]一种OLED寿命改善算法及装置

说明书

本发明公开了一种OLED寿命改善算法及装置，根据OLED亮度衰减模型，结合OLED实际硬件驱动能力及显示效果提出了OLED发光器件的寿命改善算法。OLED发光器件的寿命改善算法是OLED以某初始亮度L₀点亮时，当OLED亮度衰减到L_x时，通过提升OLED的驱动电流或电压的方法将OLED亮度提升至L_y，同时通过优化算法得到三个最优参数，即亮度衰减下限L_x的值，L_y的值和提升次数m_best，从而有效达到延长OLED寿命的目的。本发明同时公开了实现该OLED寿命改善算法的装置，该装置包含计算补偿数据模块，计算亮度数据模块，存储亮度数据模块，计算衰减程度模块，存储衰减程度模块和检测判断模块。

技术领域

本发明涉及一种有机发光器件(以下简称OLED)寿命改善算法及装置。根据OLED的亮度衰减特性，修正OLED的亮度衰减曲线，综合考虑硬件驱动能力和OLED可补偿的最大衰减程度α_limit对OLED寿命改善算法进行优化，确定最优改善参数；同时根据本发明的OLED寿命改善算法提出OLED寿命改善算法装置。OLED寿命改善算法及装置可应用在OLED照明和显示等领域。

背景技术

有机电致发光显示器件(Organic Light Emitting Diode)具有自发光，亮度高，对比度高，响应速度快，视角宽，结构简单以及柔性显示等诸多优点，因其优异的性能吸引了高校和企业的青睐，获得飞速的发展。目前，小尺寸的OLED面板已成功应用到手机上，但大尺寸OLED显示器存在亮度衰退快和显示不均匀性，这些问题制约了OLED显示器的发展。

目前很多关于OLED亮度衰退机理的研究表明，引起OLED亮度衰退的原因主要有空穴在复合层的积累^[1]，载流子引入杂质^[2]和铟迁移^[3]这三类([1]Hosokawa C,Matsuura M,Eida M,et al.Full-color organic EL display[J].SID,1998,6(4):257-260.[2]Kondakov D.Y,J.R.Sandifer.Nonradiative recombination centers and electricalaging of organic light-emitting diodes:Direct connection between accumulationof trapped charge and luminance loss[J].Appl.Phys,2003,93(2):1108-1119.[3]Shen J,Wang D,Langlois E,et al.Degradation mechanisms in organic lightemitting diodes[J].Synth.Metal,2000,111:233-236.)。目前延长OLED的寿命方法主要分为三大类:一是通过工艺的改进和完善来延长OLED寿命，主要手段有改进OLED生产工艺和封装工艺，或者选择新型材料等；二是从电路补偿方面延长OLED的寿命，包括内部电路补偿和外部电路补偿，其中内部电路补偿的方法有增加TFT和电容的数量，其目的是改善TFT阈值电压漂移引起的OLED寿命问题，外部电路补偿方法是检测OLED的亮度衰减程度，根据亮度衰减程度补偿数据电压信号或者电流信号来改善OLED寿命^[4]([4]Kuei-Yu Lee,Yen-Ping Hsu and Paul C.-P.Chao,A new compensation method for emissiondegradation in an AMOLED display via an external algorithm,new pixel circuit,and models of prior measurements[J].Journal of Display Technology,2014,10(3):189-197.)；三是图像处理方法改善OLED寿命，只要根据OLED的亮度衰减程度，通过补偿输入图像灰度数据来改善OLED的寿命。