[发明专利]具有金属模铸体的封装的功率半导体装置有效

专利信息
申请号: 201710126235.9 申请日: 2017-02-17
公开(公告)号: CN107180823B 公开(公告)日: 2022-02-11
发明(设计)人: 迈克尔·施莱歇 申请(专利权)人: 赛米控电子股份有限公司
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L23/492;H01L23/46;H01L23/467;H01L23/367
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 戚传江;金洁
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 金属 模铸体 封装 功率 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种具有形成第一连接导体的金属模铸体(2)的封装的功率半导体装置(1),

其中,从所述金属模铸体(2)的第一主表面(20)开始,形成具有第一基底(220)的第一凹陷(22),第一功率半导体元件(30)被设置在所述第一凹陷(22)中,其中所述第一功率半导体元件(30)面向所述第一基底(220)的第一接触表面(300)以导电方式连接到所述基底(220),

其中,从所述金属模铸体(2)的第二主表面(24)开始,形成具有第二基底(260)的第二凹陷(26),第二功率半导体元件(32)被设置在所述第二凹陷(26)中,其中所述第二功率半导体元件(32)与所述第二基底(260)相关的第一接触表面(320)以导电方式连接到所述基底(260),

其中,在所述第一主表面(20)和所述第二主表面(24)上设置各自的绝缘材料层(40,42),填充并完全覆盖至少各自的凹陷(22,26),

其中,第一绝缘层(40)具有导电的第一通路(50),其以导电方式将所述第一功率半导体元件(30)的第二接触表面(302)连接到设置在所述第一绝缘层(40)上的第一导电表面(60),且其中第二绝缘层(42)具有导电的第二通路(52),其以导电方式将所述第二功率半导体元件(32)的第二接触表面(322)连接到设置在所述第二绝缘层上的第二导电表面,

其中所述第一连接导体形成AC电压连接,且其中所述第一导电表面(60)和第二导电表面(62)形成补充连接导体,所述补充连接导体形成DC电压连接,

并且其中,至少一个导电表面(60,62)与相关联的冷却装置(80,82)热接触,所述冷却装置被设置在远离所述金属模铸体(2)的所述导电表面(60,62)的一侧上,且优选通过电绝缘夹层(70,72)与所述冷却装置绝缘。

2.如权利要求1所述的功率半导体装置,

其中,各自的绝缘层(40,42)和关联的绝缘夹层(70,72)简化为共同的绝缘层(400,420)。

3.如权利要求1所述的功率半导体装置,

其中,所述第一功率半导体元件(30)具有面向所述第一凹陷(22)的基底(220)且优选被构造为控制接触表面的第一补充接触表面(310),并且其中与所述金属模铸体(2)电绝缘的第一补充通路(510)与所述第一补充接触表面(310)相关联,所述第一补充通路以导电方式将所述第一补充接触表面(310)连接到设置在所述第二绝缘层(42)上的第一补充导电表面(610)。

4.如权利要求3所述的功率半导体装置,

其中,所述第二功率半导体元件(32)具有远离所述第二凹陷(26)的基底(260)且优选被构造为控制接触表面的第二补充接触表面(330),并且其中第二补充通路(530)与所述第二补充接触表面(330)相关联,所述第二补充通路以导电方式将所述第二补充接触表面(330)连接到设置在所述第二绝缘层(42)上的第二补充导电表面(630)。

5.如权利要求4所述的功率半导体装置,

其中,所述第二导电表面(62)、所述第一补充导电表面(610)和所述第二补充导电表面(630)由金属箔形成,所述金属箔被排列在内部且因此形成相互电绝缘的导电迹线。

6.如权利要求5所述的功率半导体装置,

其中,由绝缘材料箔在远离所述金属模铸体(2)的一侧上覆盖所述金属箔的导电迹线,且优选两个箔彼此粘附性地连接。

7.如权利要求4所述的功率半导体装置,

其中,所述第一和第二补充导电表面(610,630)被连接到用于控制所述功率半导体元件(30,32)的控制装置。

8.如权利要求1所述的功率半导体装置,

其中,所述金属模铸体(2)具有用于冷却所述功率半导体元件(30,32)的空腔(90)。

9.如权利要求8所述的功率半导体装置,

其中,所述空腔(90)形成热管的一部分。

10.如权利要求8所述的功率半导体装置,

其中,所述空腔(90)被设计用于液体或气体冷却剂流过其中。

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