[发明专利]试剂供给单元、试剂供给装置及分析系统

说明书

本发明提供一种可以抑制还原试剂的氧化并减少还原试剂的更换频次的试剂容器、分析系统用框体、试剂供给单元、试剂容器设置装置及分析装置。试剂容器(10)具有：试剂收容部件(11)，其具有收容试剂的可挠性软袋(12)，并形成有使软袋(12)的内侧和外侧连通的开口部(13a)；以及盖部件(14)，其可打开或关闭开口部(13a)。在盖部件(14)上形成有使软袋(12)的内侧和外侧连通的连通孔(14C)。

技术领域

本发明涉及一种试剂容器、分析系统用框体、试剂供给单元、试剂供给装置及分析系统。

背景技术

作为对试样中所含汞进行定量的方法，存在下述方法：在使总汞(金属汞及汞化合物中的汞)成为2价汞离子之后，利用还原试剂将该汞离子还原而成为金属汞，将该金属汞气化后，对该气体的吸光度进行测定(参照专利文献1)。另外，作为磷的定量方法，存在下述方法：将磷化合物分解而生成磷酸离子，在使钼酸盐与该磷酸离子反应而生成的钼酸络合物中，加入还原试剂而生成钼蓝，对该钼蓝的吸光度进行测定。这些定量方法应用于对汞或磷进行定量的自动分析系统中。

在这些方法中，作为还原试剂，经常使用液体的还原试剂。例如在汞的定量中，通常使用氯化锡溶液，在磷的定量中，通常使用抗坏血酸溶液。液体的还原试剂通常在收容于瓶子中的状态下，配置于收容有分析装置的分析系统用框体内。并且，通过泵的作用，通过与瓶子连接的配管，向进行对象物还原的反应槽实施还原试剂的送液。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2013－64715号公报

发明内容

发明要解决的问题

氯化锡或抗坏血酸等还原试剂是易氧化的物质。因此，收容于瓶子中的还原试剂会因瓶子内的空气中所含的氧气而逐渐氧化、变质。如果还原试剂变质，则无法将对象物充分地还原。即，如果使用变质了(氧化了)的试剂，则分析装置无法准确地定量对象物。

鉴于这种情况，在当前的分析装置中，为了保持汞、磷等的定量精度，会以规定的频次将因与空气接触而容易变质的试剂更换为新的试剂。但是，更换作业耗费工时。另外，由于更换后的旧试剂会被废弃，基于保护环境的观点，最好尽可能地减少更换频次，控制试剂的总废弃量。

本发明就是为了解决上述课题而做，其目的在于提供一种能够抑制试剂的变质、减少试剂的更换频次的试剂容器、分析系统用框体、试剂供给单元、试剂供给装置及分析系统。

解决课题的手段

本发明具有以下的结构。

方案1，一种试剂容器，其特征在于，

具有：

试剂收容部件，其具有收容试剂的可挠性软袋，并形成有使所述软袋的内侧和外侧连通的开口部；以及

盖部件，其可打开或关闭所述开口部，

在所述盖部件上，形成有使所述软袋的内侧和外侧连通的连通孔。

方案2，根据方案1所述的试剂容器，其中，

所述试剂为还原试剂。

方案3，根据方案1或方案2所述的试剂容器，其中，

所述开口部形成于所述试剂收容部件的上端侧，

在所述试剂收容部件的下端侧，形成有使所述试剂收容部件自立的自立结构。

方案4，根据方案1～方案3中任意一项所述的试剂容器，其中，

所述开口部形成于与所述软袋紧密贴合的开口部件上，

在所述开口部件上设置有檐部。