[发明专利]基于平板渐开线孔取样的激光光束质量测量装置和方法有效
| 申请号： | 201710131735.1 | 申请日： | 2017-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN106768316B | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 陈绍武;杨鹏翎;王振宝;冯国斌;赵海川;吴勇;王平;王飞;闫燕 | 申请（专利权）人： | 西北核技术研究所 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01J1/04 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王少文 |
| 地址： | 710024 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 平板 渐开线 取样 激光 光束 质量 测量 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.基于平板渐开线孔取样的激光光束质量测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)待测量激光束(1)穿过匀速转动平板上的多组呈渐开线排布的取样孔(2)；所述的取样孔(2)的孔径小于待测量激光束(1)的尺度；任意相邻两只取样孔(2)中心线的间距大于待测量激光束(1)的尺度；
2)光电探测器对穿过每只取样孔的激光束进行高速重叠取样测量，获取激光束在不同取样位置处的功率值；
3)数据采集处理单元记录并处理光电探测器在一个扫描周期内的系列光功率值，根据采集时间与平板转动时取样孔的位置关系，获得该时段内的桶中功率值，并根据桶中功率的最大值，获得光束质量PIB参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所，未经西北核技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710131735.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
