[发明专利]基于FPGA的环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性检测方法有效
申请号: | 201710132497.6 | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN106919764B | 公开(公告)日: | 2020-03-17 |
发明(设计)人: | 梁华国;李伟迪;徐秀敏;蒋翠云;黄正峰;易茂祥 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G06F30/34 | 分类号: | G06F30/34;G06F21/76 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 陆丽莉;何梅生 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 fpga 环形 振荡器 物理 不可 克隆 函数 可靠性 检测 方法 | ||
1.一种基于FPGA的环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性检测方法,其特征是按如下步骤进行:
步骤1、利用环形振荡器物理不可克隆函数的约束文件定义所述环形振荡器物理不可克隆函数在FPGA上的位置;再利用所述环形振荡器物理不可克隆函数的约束文件禁用所述环形振荡器物理不可克隆函数周围的逻辑单元;
步骤2、在FPGA上实现所述环形振荡器物理不可克隆函数,从而产生初始响应序列;
步骤3、利用汉明距离衡量所述环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性,得到无干扰下的可靠性指数A;
步骤4、定义变量n,并初始化n=1;
步骤5、在所述环形振荡器物理不可克隆函数周围添加n个干扰电路后,从而产生第n次响应序列,所述干扰电路由不同数量和频率的基于环形振荡器的物理不可克隆函数电路构成;
步骤6、比较第n次响应序列和初始响应序列之间相应的响应位是否存在翻转,若存在,则将翻转的响应位去除后,利用汉明距离再次衡量所述环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性,得到第n检测的可靠性指数An,再执行步骤7;若不存在,则保留第n次响应序列;并执行步骤8;
步骤7、比较第n检测的可靠性指数An是否等于无干扰下的可靠性指数A,若等于,则表示所述环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性不变;否则,表示所述环形振荡器物理不可克隆函数的可靠性得到提升;
步骤8、将n+1赋值给n后,返回步骤5执行,直到可靠性指数满足所述环形振荡器物理不可克隆函数的性能要求为止。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710132497.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种产品结构尺寸优化方法
- 下一篇:基于BIM和移动终端的构件处理方法