[发明专利]一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法有效
申请号: | 201710132621.9 | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN106872407B | 公开(公告)日: | 2019-04-19 |
发明(设计)人: | 卢宇;李中梁;王向朝;南楠;陈艳;王瑄;潘柳华;宋思雨 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N21/01 |
代理公司: | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人: | 张宁展 |
地址: | 201800 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 光学 相干 层析 成像 分辨率 方法 | ||
1.一种提高扫频光学相干层析成像分辨率方法,其特征在于该方法包括步骤如下:
①在扫频光学相干层析成像系统的样品臂放置一块平面反射镜作为样品,对其进行N次扫描,N为正整数,得到N个干涉信号和N个波数域等间隔采样时钟信号,对不同的干涉信号经过重采样和快速傅里叶变换后得到不同的点扩展函数,取其中半峰全宽最小时的波数域等间隔采样时钟信号作为标准波数域等间隔采样时钟信号,即k-clock1信号,并进行保留,作为后续互相关运算的模板,取出样品;
②在扫频光学相干层析成像系统的样品臂放置另一块平面反射镜作为样品,对其进行扫描,采集扫描时的光学相干层析成像干涉信号以及光源的波数域等间隔采样时钟信号k-clock2,将k-clock2与所述的模板进行互相关运算,得到互相关运算结果的绝对值最大值所在的横坐标τd;
③当τd等于零,则不平移波数域等间隔采样时钟信号k-clock2;
当τd大于零,则将波数域等间隔采样时钟信号k-clock2信号向右平移|τd|个采样点,即K'j(t);
当τd小于零,则将波数域等间隔采样时钟信号k-clock2信号向左平移|τd|个采样点,即K'j(t);
④将平移后的波数域等间隔采样时钟信号K'j(t)使用插值算法得到其过零点坐标;
⑤再次应用插值算法对步骤②采集得到的光学相干层析成像干涉信号在平移后的波数域等间隔采样时钟信号K'j(t)的过零点进行重采样,得到波数域等间隔采样的干涉信号;
⑥将此干涉信号与一个汉明窗函数相乘进行光谱整形,再对经过光谱整形后的干涉信号进行快速傅里叶变换得到样品反射率随深度变化的一维曲线,即A-line图像。
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