[发明专利]温度试验箱的参数测试方法及其系统有效

专利信息
申请号: 201710134510.1 申请日: 2017-03-08
公开(公告)号: CN108572087B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 王雷;陈志列 申请(专利权)人: 研祥智能科技股份有限公司
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00
代理公司: 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 11667 代理人: 赵永刚
地址: 518107 广东省深圳市光*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 温度 试验 参数 测试 方法 及其 系统
【说明书】:

发明提供一种温度试验箱的参数测试方法及系统,所述温度试验箱的参数测试方法包括根据所述温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin;根据所述温度试验箱的温变率区间,设定对应所述温变率区间的时间段数量n;根据计算所述温度试验箱在上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围内的线性温变率。本发明对温度试验箱参数测试中的风速和温变率做出了明确具体的测量计算公式定义,更符合高质量、高可靠性温度试验箱的实际验收需要。

技术领域

本发明涉及环境应力试验设备技术领域,尤其涉及一种温度试验箱的参数测试方法及其系统。

背景技术

目前,国内主要参照JJF1101-2003或者GB/T5170.2-2008标准对温度试验箱进行测试验收,JJF1101-2003标准主要包括高低温极限值,温度均匀度,波动度,偏差等参数;GB/T5170.2-2008标准不仅包含以上参数,还包括温度过冲,温度变化率,温度恢复时间,噪声等更多参数指标,能够更全面地评估和测试温度试验箱。

但上述标准所规定的温度试验箱测量参数要求主要是针对基本测量参数的描述,缺乏具体的测量和计算方法;另外,上述标准对于测量参数的要求相对较低,而目前随着产品性能可靠性要求的不断提高,可靠性试验设备也在不断更新,如HALT/HASS(HighlyAccelerated Life Test/Highly Accelerated Stress Screening,高加速寿命试验/高加速应力筛选)试验和ESS(Environment Stress Screen)试验的设备已经应用和普及在工业系统产品中,而参照JJF1101-2003或者GB/T5170.2-2008,已经不能满足这些新型设备的参数和指标测试要求。

因此,亟需设计一种使用具体测量和计算方法的温度试验箱参数测试方法及其系统,满足对新型可靠性试验设备进行细致测试并科学验收的要求。

发明内容

本发明提供的温度试验箱的参数测试方法及其系统,能够提供具体的温度试验箱参数测量和计算方法,满足对高质量、高可靠性温度试验箱的验收需求。

第一方面,本发明提供一种温度试验箱的参数测试方法,其中,上述参数测试方法包括:

步骤一,根据温度试验箱的温度范围设定上限温度Tmax和下限温度Tmin

步骤二,根据温度试验箱的温变率区间,设定对应温变率区间的时间段数量n;

步骤三,根据计算温度试验箱在上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围内的线性温变率。

可选地,上述上限温度Tmax和下限温度Tmin之间有效范围为Tn+1=Tmax×90%且T1=Tmin×10%。

可选地,上述温变率区间和所述对应的时间段数量n包括:

当所述温变率区间Vt≤5℃/min时,所述时间段数量n=30;

当所述温变率区间5℃/minVt≤15℃/min时,所述时间段数量n=4;

当所述温变率区间Vt15℃/min时,所述时间段数量n=2。

可选地,上述参数测试方法还包括:

步骤四,测量所述温度试验箱内的最大风速Vmax和最小风速Vmin

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