[发明专利]一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统在审

专利信息
申请号: 201710136386.2 申请日: 2017-03-09
公开(公告)号: CN107091974A 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 张晓虹;李琳;石泽祥;程成 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01R31/12 分类号: G01R31/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 labview 树枝 通道 局部 放电 分析 系统
【权利要求书】:

1.一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统,其特征在于:该系统由硬件部分和软件部分组成。

2.根据权利要求1所述一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统,其特征在于:该系统的硬件部分包括电源、服务器、局部放电信号检测装置、数据采集卡和示波器,对局部放电信号进行测量、采集和显示。

3.根据权利要求1所述一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统,其特征在于:所用服务器为单片机;局部放电信号检测装置应用的是罗氏线圈;示波器为Tektronix DPO7054 数字荧光示波器。

4.根据权利要求1所述一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统,其特征在于:软件部分是基于LabVIEW平台开发的,将测量和采集到的电树枝生长过程中产生的局部放电信号进行去噪和阈值分析,显示时域下的局部放电信号波形,经过转换模块,显示频域下的局部放电信号波形,然后通过提取放电相位和放电频率,构造二维放电谱图。

5.根据权利要求1所述一种基于LabVIEW的电树枝通道局部放电分析系统,其特征在于:构造二维放电谱图所用的数据点是所提取的放电相位放电频率的数据点,根据局部放电信号的频域图像和二维放电谱图分析所测试绝缘材料的老化情况。

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